[發明專利]多象限光電探測器高低溫測試系統

無效

• 申請號: 201110370352.2
• 申請日: 2011-11-21
• 公開（公告）號: CN102539983A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 錢煜;余永琦;周小燕;蘇潔梅;王鷗;李瀟;郭勇;周紅輪;何偉;祁祖峰;向秋澄;柯尊貴;劉從吉;胡衛英
• 申請（專利權）人: 西南技術物理研究所
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明關于高低溫條件下多象限光電探測器的電參數測試系統。?

背景技術

目前，要求在各種惡劣環境下能夠正常使用的電子元器件，尤其是必須在高低溫條件下能穩定工作的電子元器件，一般都要進行高低溫測試。而常用的高低溫設備通常只能對電子元器件進行加熱或制冷處理。在這個過程中，器件在高低溫箱中，并不能同時批量的對電子元器件的電學參數進行測量。由于目前生產的主要是多象限光電探測器，這類器件高低溫條件下的測試難度會更加大，需要在高低溫箱中加入激光光源，并且要連接大量的輸入輸出的線路。在體積有限的高低溫箱中實現這些連接配置有很大的難度。如圖7所示的由測試夾具上面插有器件、供電電源，光源組成的用箱子密封的測試設備，通過密封橡膠管道為被測器件加熱或制冷高低溫箱來進行的。該測試設備每次只能測試一只器件，效率很低。現有技術的測試設備結構為：待測器件放置在密封箱子內的測試夾具中，電源和光源連接至密閉箱子中待測器件上，器件的輸出端通過同軸線纜接入示波器。通過保溫管連接到外部的密閉箱子為其升降溫。這樣才能有效的保持溫度。由于測試時要求恒溫一小時，因此換下一只帶測器件時，又需要重新恒溫一小時，這樣的測試速度會非常的慢。?

本發明的目的是針對上述現有技術存在的不足之處，提出一種測試時間短，效率高，能夠在高低溫條件下一次性測試若干個元器件，并能精確測量高低溫條件下，電子元器件工作狀態的多象限光電探測器高低溫測試系統。?

發明內容

一種多象限光電探測器高低溫測試系統，包括，一個電連接直流穩壓電源的示波器，內置測試夾具的高低溫箱，其特征在于，在示波器與所述高低溫箱之間，電連接有一個帶有選通控制面板的選通電路控制箱，選通控制面板上設有對應測試器件位置的數碼管信號燈，高低溫箱輸入端相連選通電路控制箱的輸出端，高低溫箱輸出端相連激光光源，激光光源通過光纖耦合頭連接被測試器件。?

本發明相比于現有技術具有如下有益效果。?

相比以往的高低溫測試系統，本發明在測試過程中，被測的多象限探測器一直在高低溫箱中加熱或制冷。可以使待測器件所處的環境溫度更加真實和穩定。?

本發明一次加熱或制冷過程中，只需恒溫一次，可以一次性測試54只器件，相比以往的系統大大提高了測試效率，為測試工作節省了寶貴的時間。?

本發明相對于以往高低溫測試系統的在，于通過選通電路來一次性準確的測量多個多象限探測器，設計的一套可承載54只多象限探測器的測試夾具和一種方便插拔，固定牢靠的測試管座。?

相比以往的系統，本發明的操作復雜程度相對簡單，只需按動選通控制面板上的選通開關，把激光頭找到支撐架上對應位置的光纖耦合頭上，便可測試任意位置想要測試的器件。?

附圖說明

圖1本高低溫系統框架圖。?

圖2是本發明的選通電路示意圖。?

圖3是圖2的選通電路原理示意圖。?

圖4是選通電路控制箱的選通控制面板主視圖。?

圖5多象限探測器測試夾具主視圖。?

圖6多象限探測器測試夾具側視圖。?

圖7是現有技術高低溫測試系統的示意圖?

圖中：1雙四位計數器，2譯碼器，3八選一芯片，4數碼管，5八選一芯片輸入端，6信號輸出端，7象限選擇開關，8列選開關，9復位開關，10行選開關，11信號輸出接口，12示波器同步信號輸出端，13管座連接孔，14面板，15矩形孔。?

具體實施方式