[發明專利]衍射儀

有效

• 申請號: 201110368861.1
• 申請日: 2011-11-18
• 公開（公告）號: CN102565108A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: P·菲維斯特
• 申請（專利權）人: 帕納科有限公司
• 主分類號: G01N23/20
• 分類號: G01N23/20
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 陳芳

1.一種用于測量粉末樣品的衍射儀，包括：

用于保持粉末樣品的樣品臺(17)；

用于發射X射線束(6)的X射線源(2)；

具有衍射表面的單色儀晶體(12)，被布置為將單色X射線束以與衍射表面成小于5°的掠出射角向著樣品臺衍射，以在樣品臺處具有小于60μm的斑點寬度；

至少一個檢測器晶體(18)，用于測量同時以多個衍射角從粉末樣品衍射的X射線的強度；以及

處理裝置(24)，用于從測量的X射線計算衍射圖案。

2.根據權利要求1所述的衍射儀，其中，所述檢測器晶體或者每一個檢測器晶體(18)被布置為離樣品臺300mm或更小。

3.根據權利要求1或2所述的衍射儀，其中，單色儀晶體(12)被布置為，使入射在樣品上的單色X射線束以從0.005°到0.02°的角散度發生衍射。

4.根據權利要求1、2或3所述的衍射儀，還包括：拋物面鏡(10)，被布置為將來自X射線源的X射線束(6)向著單色儀晶體(12)引導。

5.根據任何一項前述權利要求所述的衍射儀，其中，所述檢測器晶體或者每一個檢測器晶體(18)是平面的。

6.根據任何一項前述權利要求所述的衍射儀，其中，樣品臺(17)具有用于粘附薄層的粉末樣品(14)的粘合劑材料(16)的安裝表面。

7.根據任何一項前述權利要求所述的衍射儀，包括多個檢測器晶體，

其中，所述檢測器晶體沿著來自單色儀(12)的單色X射線束的通過樣品臺的線被布置在該線的交替側。

8.根據任何一項前述權利要求所述的衍射儀，還包括：

用于在數據采集期間在樣品臺處移動樣品臺(17)的裝置；

其中，處理裝置(24)適合于在正進行測量的同時處理測量的X射線強度并且在已經采集了足夠的數據時停止數據采集。

9.一種進行衍射測量的方法，包括：

將粉末樣品(14)安裝在樣品臺(17)上；

將來自X射線源(2)的X射線束(6)發射到具有衍射表面的單色儀晶體(12)上，該單色儀晶體(12)被布置為將單色X射線束以與衍射表面成小于5°的掠出射角向著樣品臺衍射，以在樣品臺處具有小于60μm的斑點寬度；

使用至少一個檢測器晶體(18)來測量通過粉末樣品并同時以多個衍射角從粉末樣品衍射的X射線的強度；以及

從測量的X射線計算衍射圖案。

10.根據權利要求9所述的方法，其中，檢測器晶體被布置為離樣品臺300mm或更小。

11.根據權利要求9或10所述的方法，其中，單色儀晶體被布置為，使入射在樣品上的單色X射線束發生衍射，以具有從0.005°到0.02°的角散度。

12.根據權利要求9、10或11所述的方法，其中，粉末樣品(14)具有不大于10μm的厚度。

13.根據權利要求9至12中的任何一項所述的方法，包括將粉末樣品(14)安裝到樣品臺(17)上的粘合劑材料(16)的安裝表面上。

14.根據權利要求9至13中的任何一項所述的方法，還包括使用多個檢測器晶體測量強度，所述多個檢測器晶體沿著從單色儀(12)到樣品(14)的單色X射線束的通過樣品的線被布置于該線的交替側。

15.根據權利要求9至14中的任何一項所述的方法，還包括在數據采集期間移動樣品臺(17)。

16.根據權利要求9至15中的任何一項所述的方法，還包括在正進行測量的同時處理測量的X射線強度并在已經采集了足夠的數據時停止數據采集。