[發明專利]一種可自校準內部晶振的芯片、校準系統及校準方法

有效

• 申請號: 201110365892.1
• 申請日: 2011-11-17
• 公開（公告）號: CN103116124A
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發明（設計）人: 石道林
• 申請（專利權）人: 國民技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/3193
• 分類號: G01R31/3193
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281
• 代理人: 薛祥輝

1.一種可自校準內部晶振的芯片，其特征在于，包括測試處理模塊、比較模塊、校準寄存器以及待校準的晶振；

所述比較模塊，用于接收待校準晶振的輸出信號與外部參考精準信號并進行比較，把比較結果輸入到所述測試處理模塊處理；

所述測試處理模塊，用于接收測試指令，處理所述比較模塊輸出的數據，產生校準值輸出到所述校準寄存器，并在校準結束后輸出校準結果；

所述校準寄存器，用于接收并保存所述測試處理模塊輸出的校準值，把所述校準值輸入到待校準的晶振；

所述待校準的晶振，根據所述校準值自校準晶振。

2.如權利要求1所述的芯片，其特征在于，比較模塊為一計數器，其中所述計數器用于對待校準晶振的輸出信號或外部參考精準信號進行計數并把計數結果輸出到所述測試處理模塊處理。

3.如權利要求1所述的芯片，其特征在于，所述比較器模塊還包括有一分頻器，可以對外部參考精準頻率信號或所述待校準晶振輸出的頻率信號進行分頻處理。

4.如權利要求1到3任一項所述的芯片，其特征在于，所述測試處理模塊包括有一測試控制器和一校準處理模塊；

所述測試控制器，用于控制晶振校準的開始結束，接收外部參考的精準信號，并在校準結束后輸出測試結果；

所述校準處理模塊，用于根據所述比較模塊輸出的數據進行處理，產生校準值輸出到所述校準寄存器。

5.如權利要求4所述的芯片，其特征在于，所述的校準處理模塊包括有一判斷單元和一校準子模塊；

所述判斷單元，用于判斷比較模塊輸出的數據，把判斷結果輸出到所述校準子模塊處理；

所述校準子模塊，用于根據判斷單元輸出的結果產生相對應的校準值并把校準值輸入所述校準寄存器。

6.一種晶振校準測試的系統，其特征在于，包括一中測機臺以及權利要求1-5任一項所述的芯片；

其中，所述中測機臺與所述芯片的測試處理模塊連接，用于發送測試指令，并在測試結束后接收測試結果；

中測機臺還與所述芯片的比較模塊連接，用于向所述比較模塊提供外部參考精準信號。

7.一種基于權利要求6所述系統的可自校準內部晶振芯片的校準方法，

其特征在于，包括以下步驟：

測試處理模塊接收中測機臺發送的測試命令，開始晶振的自校準測試；

待校準晶振輸出信號與外部精準參考信號輸入到比較模塊中進行比較，所述比較模塊把比較結果輸出到所述測試處理模塊；

所述測試處理模塊處理所述比較模塊輸出的比較結果，根據比較結果返回測試結果或者產生對應的校準值輸出到所述寄存器中；

待校準晶振根據校準值的大小改變信號的輸出，把改變后的信號輸出到所述比較模塊再與外部參考精準信號進行比較；

校準完成后，測試處理模塊返回測試結果到中測機臺。

8.如權利要求7所述的校準方法，其特征在于，測試處理模塊處理所述比較模塊輸出的比較結果，根據比較結果返回測試結果或者產生對應的校準值輸出到所述寄存器中的步驟中，如果待校準晶振輸出信號與外部參考精準信號相等，測試結束，所述測試處理模塊返回測試結果到中測機臺；如果待校準晶振輸出信號與外部參考精準信號不相等，所述測試處理模塊產生一KΔf或-KΔf的校準值輸出到校準寄存器，其中K為大于0的整數，Δf為晶振最小可調整值，KΔf表示校準調整的步長。

9.如權利要求7或8所述的校準方法，其特征在于，待校準晶振輸出信號與外部參考精準信號輸入一計數器中，其中，所述待校準晶振輸出信號與所述外部參考精準信號之中任一信號作為計數器的時鐘信號輸入，另一信號作為計數器的計數輸入，計數結果輸出到所述測試處理模塊處理。

10.如權利要求9所述的校準方法，其特征在于，還可以增加一分頻器對所述待校準晶振輸出信號或所述外部參考精準信號進行分頻處理后再輸出到計數器中。