[發(fā)明專利]微小空間內(nèi)溫度精確測量裝置及探頭和測溫方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110364336.2 | 申請日: | 2011-11-17 |
| 公開(公告)號: | CN102507035A | 公開(公告)日: | 2012-06-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉志剛;張承武 | 申請(專利權(quán))人: | 山東省科學(xué)院能源研究所 |
| 主分類號: | G01K7/18 | 分類號: | G01K7/18;G01K1/00 |
| 代理公司: | 濟(jì)南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205 | 代理人: | 曲志波 |
| 地址: | 250014 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微小 空間 溫度 精確 測量 裝置 探頭 測溫 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
????本發(fā)明涉及一種新型溫度測量方法,尤其涉及一種利用溫度變化對阻值的影響進(jìn)而通過迭代的方式調(diào)整電阻絲的溫度逐漸與被測樣品一致。該方法是一種利用迭代電阻的測溫方法。
背景技術(shù)
????隨著科技的進(jìn)步,小型化、微型化正逐漸成為各項(xiàng)領(lǐng)域設(shè)備的發(fā)展趨勢。然而,設(shè)備微型化一方面提高了空間利用率及設(shè)備各效率的同時(shí),設(shè)備中尺度的減小也大大增加了相關(guān)物理量的測量難度。溫度作為國際單位制中七個(gè)基本物理量之一,在微流動、微傳熱系統(tǒng)中是至關(guān)重要的物性參數(shù),如何對微米級、亞微米級甚至納米級空間中的工質(zhì)溫度進(jìn)行準(zhǔn)確且有效測量是目前微/納流動及傳熱系統(tǒng)研究中亟待解決的測量難點(diǎn)問題。
目前的溫度測量方法主要分為接觸式測溫和非接觸式測溫兩大類。接觸式測溫法在測量時(shí)需要與被測物體或介質(zhì)充分接觸,一般測量的是被測對象和傳感器的平衡溫度,如液體膨脹式溫度計(jì)、熱電偶溫度計(jì)、熱電阻溫度計(jì)等均屬此類。接觸式測溫簡單、可靠、測量精度高,但由于達(dá)到熱平衡需要一定時(shí)間,因而會產(chǎn)生測溫的滯后現(xiàn)象;另外感溫元件往往會破壞被測對象的溫度場,并有可能受到被測介質(zhì)的腐蝕,從而導(dǎo)致明顯的測量誤差。非接觸式測溫方法則不需要與被測對象接觸,因而不會干擾溫度場,但同時(shí)也存在著精度不如接觸式測溫儀表、結(jié)構(gòu)復(fù)雜且測試成本高等缺點(diǎn)。
在微/納系統(tǒng)通道內(nèi),尤其通道尺寸降至亞微米甚至納米量級時(shí),常規(guī)的接觸式測溫方法不但難以保證與被測表面的良好接觸,而且會嚴(yán)重影響破壞被測表面的溫度分布;同時(shí)由于此時(shí)極微量的工質(zhì)與測點(diǎn)接觸后,其測點(diǎn)的熱容將改變極微量工質(zhì)的溫度,因此常規(guī)接觸式測溫方法難以對微/納系統(tǒng)內(nèi)部工質(zhì)溫度進(jìn)行有效測量。而非接觸式溫度測量方法則測量精度較差,且對光路布置要求非常高,尤其當(dāng)尺度降低至微米級以下時(shí),該問題變得更加突出,目前還未有非接觸式溫度測量方法能對微米級以下級空間進(jìn)行有效測量。因此,必須開發(fā)出一種新的溫度測量方法,能夠準(zhǔn)確反映微/納米尺度通道內(nèi)工質(zhì)溫度值,對于微/納系統(tǒng)的發(fā)展具有極為重要的現(xiàn)實(shí)意義。
發(fā)明內(nèi)容
本項(xiàng)目正是針對這一需求,提出“迭代電阻測溫法”這一新的溫度測量方法,可較為方便地應(yīng)用于微納流體機(jī)械以及微換熱系統(tǒng)中,實(shí)現(xiàn)對微/納米通道內(nèi)工質(zhì)溫度的精確且有效測量,解決微/納空間工質(zhì)溫度精確測量的瓶頸問題,從而推動工業(yè)換熱設(shè)備的微/納型化發(fā)展。本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)中的不足提出了一種能夠有效測量微納流體機(jī)械以及微換熱系統(tǒng)中工質(zhì)的溫度測量,解決微/納空間工質(zhì)溫度精確測量的瓶頸問題。
一種新型測溫方法,其特征是它包括如下步驟:
1依據(jù)鉑絲電阻阻值與溫度變化的對應(yīng)關(guān)系,按照預(yù)測的工質(zhì)出口溫度設(shè)立鉑絲初始溫度;該方法采取調(diào)整鉑絲兩端電壓的技術(shù)手段精確控制鉑絲的溫度,即先預(yù)測工質(zhì)出口溫度,加載電流使鉑絲溫度與預(yù)測值相等。
2使用微小空間內(nèi)溫度精確測量裝置測溫,它包括探頭和與之相連的高精度電阻測量與處理系統(tǒng)和高精度加熱系統(tǒng)。探頭包括中空的套管,套管兩端封閉且設(shè)置有金屬電極,還設(shè)置有連接兩端金屬電極的細(xì)金屬絲,所述套管為內(nèi)徑0.1mm-5mm;長度1mm-10mm的細(xì)管;在套管的側(cè)壁上開設(shè)工質(zhì)進(jìn)孔。被測工質(zhì)通過開在側(cè)壁上的工質(zhì)進(jìn)孔進(jìn)入管內(nèi)直接與鉑絲接觸;?
3調(diào)整鉑絲端電壓對鉑絲的阻值進(jìn)行迭代直至鉑絲阻值不再變化,這時(shí)鉑絲的溫度即為被測工質(zhì)的溫度。當(dāng)被測工質(zhì)的溫度與鉑絲溫度不一致時(shí),鉑絲的阻值會發(fā)生變化,此時(shí)根據(jù)鉑絲阻值隨溫度的變化關(guān)系——鉑絲阻值隨溫度的升高而升高,進(jìn)一步調(diào)整鉑絲兩端電壓,當(dāng)鉑絲阻值增大時(shí)說明工質(zhì)溫度高于鉑絲溫度,此時(shí)加大鉑絲端電壓,提高鉑絲溫度,如果鉑絲阻值減小則相應(yīng)的減小鉑絲端電壓,降低鉑絲溫度,如此往復(fù)循環(huán),直至鉑絲阻值不再發(fā)生變化,這一循環(huán)過程中鉑絲阻值的調(diào)整量是一個(gè)逐漸減小和遞進(jìn)的過程,是對鉑絲阻值的一個(gè)迭代過程,通過對鉑絲電阻的判斷以及不斷的迭代實(shí)現(xiàn)鉑絲的阻值不再發(fā)生變化,而此時(shí)鉑絲的溫度就是被測工質(zhì)的溫度。
一種微小空間內(nèi)液體工質(zhì)的溫度精確測量探頭,它包括中空的套管,其特征是在套管兩端封閉且設(shè)置有金屬電極,還設(shè)置有連接兩端金屬電極的細(xì)金屬絲,所述套管為內(nèi)徑0.1mm-5mm;長度1mm-10mm的細(xì)管;套管側(cè)壁開設(shè)通孔。
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