[發(fā)明專利]利用三維特征數(shù)據(jù)曲線支持線條痕跡檢驗(yàn)鑒定的方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110364168.7
• 申請日: 2011-11-16
• 公開（公告）號: CN102435606A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馬建春
• 申請（專利權(quán)）人: 馬建春
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84
• 代理公司: 蚌埠鼎力專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 34102
• 代理人: 王琪;白京萍

1.利用三維特征數(shù)據(jù)曲線支持線條痕跡檢驗(yàn)鑒定的方法，它包括以下工藝步驟：

1)采用常規(guī)的顯微三維數(shù)據(jù)采集儀，并根據(jù)線條痕跡的種類，確定采集數(shù)據(jù)時(shí)的分辨率；

2)將現(xiàn)場物證安裝在顯微三維數(shù)據(jù)采集儀上，調(diào)整現(xiàn)場物證中待采集的線條痕跡表面的位置，使所述線條痕跡表面與顯微三維數(shù)據(jù)采集儀的攝像機(jī)和其顯微鏡頭的主光軸呈垂直的位置關(guān)系，或者所述的位置關(guān)系控制在一個(gè)允許的誤差范圍內(nèi)，同類線條痕跡要采用相同或相近的采集位置；

3)根據(jù)現(xiàn)場物證的具體情況，確定所述現(xiàn)場物證表面線條痕跡的三維數(shù)據(jù)和照片的采集次數(shù)，再操作2)步驟中的顯微三維數(shù)據(jù)采集儀，采用顯微三維數(shù)據(jù)采集儀中的常規(guī)數(shù)據(jù)采集軟件，采集三維數(shù)據(jù)和照片并分別進(jìn)行編號，然后，將上述三維數(shù)據(jù)和照片以文件的形式分別保存在計(jì)算機(jī)中；

4)利用常規(guī)的數(shù)據(jù)處理軟件對采集的現(xiàn)場物證的三維數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，每次處理時(shí)，獲得由相應(yīng)三維數(shù)據(jù)點(diǎn)構(gòu)成的點(diǎn)云圖，具體為：

在一般工具剪切或者擦劃形成的線條痕跡的點(diǎn)云圖中包括粗大線條痕跡和附著在粗大線條痕跡上的細(xì)小線條痕跡，在彈頭表面線條痕跡的點(diǎn)云圖中包括一條次棱線痕跡和若干條由小線紋構(gòu)成的粗大線條痕跡，利用上述的數(shù)據(jù)處理軟件，按照點(diǎn)云圖中粗大線條痕跡的垂線方向以一定的間隔距離分別作若干垂線，依次提取過每條垂線的各三維數(shù)據(jù)點(diǎn)，并將同條垂線上的各三維數(shù)據(jù)點(diǎn)依次用線段連接，進(jìn)而獲得所述線條痕跡表面相應(yīng)部位的線條痕跡的若干三維特征數(shù)據(jù)曲線，另，每次處理時(shí)，根據(jù)各點(diǎn)云圖中線條變化的情況，確定提取三維特征數(shù)據(jù)曲線的條數(shù)，并根據(jù)若干三維特征數(shù)據(jù)曲線在點(diǎn)云圖上的位置依次進(jìn)行編號，然后以編號為文件名將與其相對應(yīng)的三維特征數(shù)據(jù)曲線一并保存在計(jì)算機(jī)中；

5)利用常規(guī)軟件對三維特征數(shù)據(jù)曲線進(jìn)行處理，以方便檢驗(yàn)鑒定為前提條件，使三維特征數(shù)據(jù)曲線表達(dá)在計(jì)算機(jī)的顯示器上；

6)按檢驗(yàn)鑒定的相關(guān)要求，制作比對樣本，對該樣本重復(fù)1)至5)步驟，得到該樣本表面線條痕跡的照片、三維特征數(shù)據(jù)曲線及前兩者各自相應(yīng)的編號，分別保存于計(jì)算機(jī)中備檢；

7)將現(xiàn)場物證、比對樣本的三維特征數(shù)據(jù)曲線和照片分別在計(jì)算機(jī)的顯示器上一一進(jìn)行檢驗(yàn)鑒定。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用三維特征數(shù)據(jù)曲線支持線條痕跡檢驗(yàn)鑒定的方法，其特征在于：

1)步驟中所述常規(guī)的顯微三維數(shù)據(jù)采集儀為顯微光柵投影三維數(shù)據(jù)采集裝置、激光采集裝置、探針式測量采集裝置中的任一種；

所述分辨率要根據(jù)形成線條痕跡的工具的種類來確定，鉗、剪、刀、螺絲刀等形成的線條痕跡，用4微米的分辨率；彈頭上的線條痕跡用2.75到3微米的分辨率；

當(dāng)顯微三維數(shù)據(jù)采集儀采用顯微光柵投影三維數(shù)據(jù)采集裝置時(shí)，對于4微米的分辨率，其采集標(biāo)準(zhǔn)如下：要求采集面積控制在2.2×3平方毫米且至少含42萬個(gè)三維數(shù)據(jù)點(diǎn)的數(shù)據(jù)信息，要求1毫米長度采集250個(gè)三維數(shù)據(jù)點(diǎn)的三維數(shù)據(jù)；對于2.75微米的分辨率，其采集標(biāo)準(zhǔn)如下：要求采集面積控制在1.5×2.1平方毫米且至少含42萬個(gè)三維數(shù)據(jù)點(diǎn)的數(shù)據(jù)信息，要求1毫米長度采集363個(gè)三維數(shù)據(jù)點(diǎn)的三維數(shù)據(jù)；

當(dāng)顯微三維數(shù)據(jù)采集儀采用激光采集裝置或探針式測量采集裝置時(shí)，對于4微米的分辨率，其采集標(biāo)準(zhǔn)如下：要求1毫米長度采集250個(gè)三維數(shù)據(jù)點(diǎn)的三維數(shù)據(jù)；對于2.75微米的分辨率，其采集標(biāo)準(zhǔn)如下：要求1毫米長度采集363個(gè)三維數(shù)據(jù)點(diǎn)的三維數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用三維特征數(shù)據(jù)曲線支持線條痕跡檢驗(yàn)鑒定的方法，其特征在于：

2)步驟中，當(dāng)顯微三維數(shù)據(jù)采集儀采用顯微光柵投影三維數(shù)據(jù)采集裝置時(shí)，所述的誤差范圍控制如下：

鉗、剪、刀、螺絲刀等形成的線條痕跡表面要垂直于顯微鏡的主光軸，并允許線條痕跡表面上的痕跡線條寬度方向的高度差控制在60微米之內(nèi)，所述痕跡線條長度方向的高度差控制在150微米之內(nèi)；

彈頭上待采集的線條痕跡表面的位置處于彈頭底部次棱線下端點(diǎn)的以上部位，所述部位包括次棱線及其旁側(cè)的小線紋區(qū)域，使所述小線紋區(qū)域中的同一痕跡線條首尾兩端的高差不超過100微米。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用三維特征數(shù)據(jù)曲線支持線條痕跡檢驗(yàn)鑒定的方法，其特征在于：

3)步驟中所述的常規(guī)數(shù)據(jù)采集軟件為顯微光柵投影三維數(shù)據(jù)采集軟件、激光采集裝置三維數(shù)據(jù)采集軟件、探針式測量采集裝置三維數(shù)據(jù)采集軟件中的任一種。