[發(fā)明專利]自對準(zhǔn)雙極晶體管及其制作方法有效
申請?zhí)枺?/td> | 201110363863.1 | 申請日: | 2011-11-16 |
公開(公告)號: | CN103117299A | 公開(公告)日: | 2013-05-22 |
發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳帆;陳雄斌;薛愷;周克然;潘嘉;李昊;蔡瑩;陳曦 | 申請(專利權(quán))人: | 上海華虹NEC電子有限公司 |
主分類號: | H01L29/73 | 分類號: | H01L29/73;H01L29/417;H01L21/331;H01L21/28;H01L21/265 |
代理公司: | 上海浦一知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁紀(jì)鐵 |
地址: | 201206 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索關(guān)鍵詞: | 對準(zhǔn) 雙極晶體管 及其 制作方法 | ||
1.一種自對準(zhǔn)雙極晶體管,形成于硅襯底上,有源區(qū)由淺槽場氧隔離,其特征在于,自對準(zhǔn)雙極晶體管包括:
一集電區(qū),由形成于所述有源區(qū)中的一N型離子注入?yún)^(qū)組成,所述集電區(qū)深度大于所述淺槽場氧底部的深度;
一贗埋層,由形成于所述有源區(qū)兩側(cè)的淺槽場氧底部的N型離子注入?yún)^(qū)組成,所述贗埋層還延伸到所述有源區(qū)中并和所述集電區(qū)的底部相接觸,在所述贗埋層頂部的所述淺槽場氧中形成有深孔接觸,該深孔接觸引出集電極;
一P型摻雜的基區(qū),所述基區(qū)由形成于所述有源區(qū)上方的基區(qū)外延層組成,所述基區(qū)和所述集電區(qū)形成接觸,所述基區(qū)還延伸到所述有源區(qū)外側(cè)的所述淺槽場氧上;
一發(fā)射區(qū)窗口介質(zhì)層,所述發(fā)射區(qū)窗口介質(zhì)層包括內(nèi)側(cè)面和外側(cè)面并組成一圍繞式結(jié)構(gòu),所述發(fā)射區(qū)窗口介質(zhì)層的內(nèi)側(cè)面圍成的區(qū)域?yàn)榘l(fā)射區(qū)窗口,所述發(fā)射區(qū)窗口介質(zhì)層的外側(cè)面以外的區(qū)域?yàn)橥饣鶇^(qū)自對準(zhǔn)注入?yún)^(qū);
所述發(fā)射區(qū)窗口位于所述有源區(qū)的正上方、且所述發(fā)射區(qū)窗口的尺寸小于或等于所述有源區(qū)尺寸;在所述發(fā)射區(qū)窗口的側(cè)壁上形成有氮化膜內(nèi)側(cè)墻,所述發(fā)射區(qū)窗口將所述基區(qū)露出;
所述發(fā)射區(qū)窗口介質(zhì)層的外側(cè)面和所述有源區(qū)相交使所述外基區(qū)自對準(zhǔn)注入?yún)^(qū)和所述有源區(qū)的位置能交疊;
一發(fā)射區(qū),由N型多晶硅組成,所述發(fā)射區(qū)的多晶硅完全填充所述發(fā)射區(qū)窗口并和所述發(fā)射區(qū)窗口底部的所述基區(qū)接觸;在所述發(fā)射區(qū)上形成有金屬接觸,該金屬接觸引出發(fā)射極;
根據(jù)形成于所述硅襯底上的位置不同所述基區(qū)分為本征基區(qū)和外基區(qū),位于所述發(fā)射區(qū)窗口介質(zhì)層的外側(cè)面以內(nèi)區(qū)域的所述基區(qū)為所述本征基區(qū)、所述本征基區(qū)外部的所述基區(qū)為所述外基區(qū);所述外基區(qū)的P型摻雜雜質(zhì)還包括自對準(zhǔn)注入雜質(zhì),所述自對準(zhǔn)注入雜質(zhì)的自對準(zhǔn)的阻擋區(qū)域?yàn)樗霭l(fā)射區(qū)窗口介質(zhì)層的外側(cè)面以內(nèi)區(qū)域;在所述外基區(qū)上形成有金屬接觸,該金屬接觸引出基極。
2.如權(quán)利要求1所述的自對準(zhǔn)雙極晶體管,其特征在于:所述基區(qū)的基區(qū)外延層的成分為Si,SiGe,SiGeC。
3.如權(quán)利要求1所述的自對準(zhǔn)雙極晶體管,其特征在于:所述發(fā)射區(qū)窗口介質(zhì)層為氧化膜、或?yàn)檠趸ず偷ば纬傻膹?fù)合膜,所述發(fā)射區(qū)窗口介質(zhì)層的厚度為0.1微米~0.3微米。
4.如權(quán)利要求1所述的自對準(zhǔn)雙極晶體管,其特征在于:所述發(fā)射區(qū)的寬度為0.2微米~0.4微米;所述發(fā)射區(qū)窗口介質(zhì)層的內(nèi)側(cè)面和外側(cè)面之間的寬度為0.1微米~0.2微米。
5.如權(quán)利要求1所述的自對準(zhǔn)雙極晶體管,其特征在于:所述發(fā)射區(qū)僅由填充于所述發(fā)射區(qū)窗口中的所述多晶硅組成,在所述發(fā)射區(qū)窗口外部的所述發(fā)射區(qū)窗口介質(zhì)層上沒有所述多晶硅。
6.如權(quán)利要求1所述的自對準(zhǔn)雙極晶體管,其特征在于:在所述發(fā)射區(qū)和所述外基區(qū)的表面都覆蓋有硅化物。
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H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
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