[發(fā)明專利]運(yùn)動分析裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110363773.2
• 申請日: 2011-11-16
• 公開（公告）號: CN102580300A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 中岡康
• 申請（專利權(quán)）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: A63B69/36
• 分類號: A63B69/36;A63B69/00;G01P9/00;G01P15/00
• 代理公司: 北京金信立方知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11225
• 代理人: 黃威;孫麗梅

1.一種運(yùn)動分析裝置，包括：

傳感器部，其被安裝在對象物上，并對物理量進(jìn)行檢測；

數(shù)據(jù)取得部，其取得包含所述物理量的m階時間積分值的真值為已知的第一期間和作為運(yùn)動分析的對象的第二期間在內(nèi)的期間內(nèi)的、所述傳感器部的輸出數(shù)據(jù)，其中，m為1以上的整數(shù)；

誤差時間函數(shù)推斷部，其對所述輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行m階時間積分，并根據(jù)所述輸出數(shù)據(jù)在所述第一期間內(nèi)的m階時間積分值與所述真值之間的差，而對由所述傳感器部檢測出的所述物理量的值相對于所述真值的誤差的時間函數(shù)進(jìn)行推斷；

數(shù)據(jù)補(bǔ)正部，其根據(jù)所述誤差時間函數(shù)推斷部的推斷結(jié)果，而對所述輸出數(shù)據(jù)在所述第二期間內(nèi)的m階時間積分值進(jìn)行補(bǔ)正；

運(yùn)動分析信息生成部，其根據(jù)由所述數(shù)據(jù)補(bǔ)正部補(bǔ)正后的所述第二期間內(nèi)的m階時間積分值，而生成所述對象物的運(yùn)動分析信息。

2.如權(quán)利要求1所述的運(yùn)動分析裝置，其中，

所述誤差時間函數(shù)推斷部通過利用多項式而對所述誤差的時間函數(shù)進(jìn)行近似，并對該多項式的系數(shù)進(jìn)行計算，從而對所述誤差的時間函數(shù)進(jìn)行推斷。

3.如權(quán)利要求1所述的運(yùn)動分析裝置，其中，

所述第一期間被設(shè)定有多個，

所述誤差時間函數(shù)推斷部根據(jù)所述數(shù)據(jù)取得部在多個所述第一期間中的每一個期間內(nèi)所取得的數(shù)據(jù)，而對所述誤差的時間函數(shù)進(jìn)行推斷。

4.如權(quán)利要求3所述的運(yùn)動分析裝置，其中，

多個所述第一期間中的至少一個為所述第二期間開始前的期間，

多個所述第一期間中的至少一個為所述第二期間結(jié)束后的期間。

5.如權(quán)利要求1所述的運(yùn)動分析裝置，其中，

所述第一期間為所述對象物處于靜止中的期間。

6.如權(quán)利要求1所述的運(yùn)動分析裝置，其中，

所述傳感器部將加速度以及角速度中的至少一個作為所述物理量而進(jìn)行檢測。