[發明專利]減少X射線成像檢查中使用的放射劑量的方法及CT系統

有效

• 申請號: 201110362931.2
• 申請日: 2011-11-16
• 公開（公告）號: CN102525531A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: H.布魯德;T.弗洛爾;R.勞佩克
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03;A61B19/00;G06F19/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

1.一種用于在X射線成像檢查中、特別是在CT檢查中減少所使用的放射劑量的方法，包括下列方法步驟：

1.1.通過X射線來掃描或者透視患者(P)，

1.2.產生具有大量像素的投影圖像或者X射線斷層圖像(3.1)，并且

1.3.對圖像進行濾波以改善圖像的質量，

其特征在于，

1.4.對每個像素在圍繞所檢查的像素具有第一半徑的圓內尋找結構信息，包括可能找到的結構的方向信息，

1.5.在所檢查的像素上應用取決于方向的低通濾波器，其中，一方面該低通濾波器的空間作用范圍小于所述第一半徑，并且，另一方面通過所述低通濾波器的取決于方向的權重來考慮可能找到的結構的方向信息。

2.按照權利要求1所述的方法，其特征在于，通過使用至少一個形態學濾波器的濾波來確定所述結構信息。

3.按照權利要求1至2中任意一項的方法，其特征在于，使用擴散濾波器作為取決于方向的低通濾波器。

4.按照權利要求3所述的方法，其特征在于，所述擴散濾波器通過對局部濾波步驟的迭代應用來實現。

5.按照權利要求4所述的方法，其特征在于，對在位置p的像素值V(p)定義所述局部濾波步驟如下：

V′(p)=V(p)+αΣqgq,p·(V(q)-V(p))·H(|V(q)-V(p)|σ),]]>

其中，

-q表示p的相鄰像素，

-g_q，p定義在局部空間的濾波器系數，以及

-感應函數H確定取決于局部對比噪聲比(CNR)、即|V(q)-V(p)|/σ的濾波強度。