[發明專利]一種基于虛擬現實技術的表達和分析不確定度的方法

無效

• 申請號: 201110362212.0
• 申請日: 2011-11-15
• 公開（公告）號: CN102495947A
• 公開（公告）日: 2012-06-13
• 發明（設計）人: 卞昕;周鑫;方宏;劉科;趙海寧
• 申請（專利權）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228
• 代理人: 張瑾

1.一種基于虛擬現實技術的測量不確定度表達和分析方法，其特征在于，該方法包括：

a、引入測量輸入量和輸出量的測量模型y＝f(x₁，x₂....x_n)，式中y為輸出量即被測量，x₁，x₂....x_n為輸入量；

b、引入輸入量x₁，x₂....x_n的概率分布，其中表示輸入量概率分布的參數記為a_ij，i＝1...n，n為輸入量的個數，j＝1...m，m為影響輸入量x_i概率分布的參數個數；

c、根據測量模型y＝f(x₁，x₂....x_n)及輸入量x₁，x₂....x_n的概率分布計算輸出量y的概率密度函數g(y，a₁₁，...，a_nm)；

d、根據測量的具體需求，選擇一個關鍵參數a_kr(1≤k≤n，1≤r≤m)，確定a_kr的取值范圍，根據測量儀表性能得到其他輸入量概率分布參數的取值，此時y的概率密度函數記為g(y，a_kr)，將輸出量y、關鍵參數a_kr、概率密度值g(y，a_kr)分別對應三維虛擬現實系統下X、Y、Z三個坐標軸，生成三維曲面圖；

e、在虛擬現實系統下建立圖形用戶接口GUI界面實現對所述三維曲面圖中遠裁剪面和近裁剪面的控制，以實現對概率密度曲線隨a_kr變化的控制；

f、根據測量具體條件確定a_kr的取值，并對y采樣，從而得到一組表示y概率密度的離散點集(y_t，g_t)，t＝1.....T，T為采樣點個數，g_t為y＝y_t時概率密度值；

g、以不確定度評定中的各典型分布為目標函數，做離散點集(y_t，g_t)的曲線擬合，曲線擬合后得到各典型分布所對應的擬合誤差統計值，各分布擬合誤差統計值中最小值所對應的分布類型即為被測量y的分布類型，將此分布類型記為L型分布；

h、在以L型分布為目標函數，對離散點集(y_t，g_t)進行曲線擬合的過程中得到曲線擬合參數，由曲線擬合參數得到擴展不確定度，從而給出不確定度評定報告。