[發明專利]一種表層調查中計算橫波靜校正量的方法

有效

• 申請號: 201110362209.9
• 申請日: 2011-11-16
• 公開（公告）號: CN103116184A
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發明（設計）人: 崔士天;李培明;鄧志文;倪宇東;王瑞貞;杜中東
• 申請（專利權）人: 中國石油集團東方地球物理勘探有限責任公司
• 主分類號: G01V1/36
• 分類號: G01V1/36
• 代理公司: 北京市中實友知識產權代理有限責任公司 11013
• 代理人: 劉天語;周慧麟

1.一種表層調查中計算橫波靜校正量的方法，特點是具體實現步驟如下：

1)對野外已經采集得到的一口橫波微測井，提取井中深部位置接收的一個橫波初至時間和深度，得到一個調查點的時間和深度數值；

2)對工區全部橫波微測井都采用步驟1)的方式處理，得到全部橫波微測井的時間和深度數值；

3)對全部時間和深度值數據做插值運算，得到整個工區的時間模型和深度模型；

4)用時間模型計算得到表層校正時間，用深度模型和基準面計算得到基準面校正時間，得到靜校正量：

靜校正量t采用以下公式計算：

t＝-t₀+t₁???????(1)

其中：t1=E-dvr---(2)]]>

式中：

t₀為表層校正時間；

t₁為基準面校正時間；

E為基準面高程；

d為深度模型上的深度；

v_r為填充速度。

2.根據權利要求1所述的方法，特點是步驟1)對野外已經采集得到的一口橫波微測井，提取井中深部位置接收的一個橫波初至時間和深度，得到一個調查點的時間和深度數值；

3.根據權利要求1所述的方法，特點是步驟1)所述的橫波初至是選取能量強，起跳干脆，時間可靠且位置比較深的橫波初至。

4.根據權利要求1所述的方法，特點是步驟1)所述的橫波初至時間和深度是提取井中深部位置接收的一個以上的橫波初至時間和深度，對這些初至時間值和深度值分別求平均值，得到一個調查點的時間和深度數值；

5.根據權利要求1所述的方法，特點是步驟1)所述的選取是選擇工區內的橫波微測井絕大多數井的井深，且該井深有能量強，質量好的橫波初至。

6.根據權利要求1所述的方法，特點是步驟1)所述的選取的井中深部位置深度范圍長度在10m以內，應包含至少兩個深度點的初至時間。

7.根據權利要求1所述的方法，特點是步驟3)中的插值運算不考慮時間模型，深度模型采用上下地層的相關系數約束。