[發(fā)明專利]部位檢測(cè)設(shè)備、部位檢測(cè)方法以及程序無效
申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110362035.6 | 申請(qǐng)日: | 2011-11-15 |
公開(公告)號(hào): | CN102542250A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 青山一美;南野活樹;大久保厚志 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 索尼公司 |
主分類號(hào): | G06K9/00 | 分類號(hào): | G06K9/00 |
代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 朱勝;陳煒 |
地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索關(guān)鍵詞: | 部位 檢測(cè) 設(shè)備 方法 以及 程序 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及部位檢測(cè)設(shè)備、部位檢測(cè)方法以及程序。
背景技術(shù)
近來,所謂的面部檢測(cè)技術(shù)已引起關(guān)注。面部檢測(cè)代表對(duì)圖像進(jìn)行分析以及對(duì)包含在分析圖像中的人臉的機(jī)械檢測(cè)。更具體來說,存儲(chǔ)特定的人的面部特征,并從圖像中檢測(cè)具有與所存儲(chǔ)特征基本類似的特征的區(qū)域。例如,日本專利早期公開第2009-140369號(hào)(下文稱為專利文獻(xiàn)1)公開了一種方法,該方法將boosting技術(shù)應(yīng)用于面部檢測(cè)處理。boosting技術(shù)旨在通過以聯(lián)合方式使用很多簡(jiǎn)單特征量檢測(cè)器(或弱檢測(cè)器)來實(shí)現(xiàn)精確特征量檢測(cè)器(或強(qiáng)檢測(cè)器)。專利文獻(xiàn)1中所公開的這些技術(shù)的使用允許以高準(zhǔn)確度來從圖像中檢測(cè)人臉。
發(fā)明內(nèi)容
然而,如果面部大部分隱藏在阻擋物之后或面部完全指向側(cè)面,則以上專利文獻(xiàn)1中公開的面部檢測(cè)技術(shù)難以檢測(cè)到面部。因此,本公開提出了上述問題以及與相關(guān)技術(shù)的方法和設(shè)備相關(guān)聯(lián)的其它問題,并通過提供部位檢測(cè)設(shè)備、部位檢測(cè)方法以及程序而解決了所提出的問題,該部位檢測(cè)設(shè)備、部位檢測(cè)方法以及程序被配置為以新穎且改進(jìn)的方式估計(jì)面部檢測(cè)處理不能檢測(cè)到的面部的位置。應(yīng)注意,專利文獻(xiàn)1中公開的面部檢測(cè)技術(shù)可擴(kuò)展至部位檢測(cè)技術(shù),用于檢測(cè)面部以外的部位。考慮到這種技術(shù)擴(kuò)展,本公開的實(shí)施例可以在一定程度上擴(kuò)展,使得提供了部位檢測(cè)設(shè)備、部位檢測(cè)方法以及程序,該部位檢測(cè)設(shè)備、部位檢測(cè)方法以及程序被配置為估計(jì)上述相關(guān)技術(shù)不能檢測(cè)到的部位的位置。
當(dāng)實(shí)施本發(fā)明時(shí),根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例,提供了一種部位檢測(cè)設(shè)備。該部位檢測(cè)設(shè)備包括:部位檢測(cè)塊,被配置為從輸入圖像中檢測(cè)構(gòu)成主體的多個(gè)部位的位置;以及關(guān)注部位估計(jì)塊,被配置為,如果部位檢測(cè)塊未檢測(cè)到關(guān)注部位的位置,則基于由部位檢測(cè)塊檢測(cè)到的部位的位置以及將檢測(cè)到的部位的位置用作參考的關(guān)于位置關(guān)系的信息,估計(jì)關(guān)注部位的位置。
上述部位檢測(cè)設(shè)備還具有信息更新塊,該信息更新塊被配置為,如果部位檢測(cè)塊檢測(cè)到了關(guān)注部位的位置以及與關(guān)注部位不同的部位的位置,則基于關(guān)注部位的位置以及其它部位的位置來更新關(guān)于位置關(guān)系的信息。
在上述部位檢測(cè)設(shè)備中,部位檢測(cè)塊以第一準(zhǔn)確度檢測(cè)多個(gè)部位的位置,并且,如果未檢測(cè)到關(guān)注部位的位置,則針對(duì)具有預(yù)定尺寸的、包括由關(guān)注部位估計(jì)塊估計(jì)的關(guān)注部位的位置的區(qū)域,以高于第一準(zhǔn)確度的第二準(zhǔn)確度檢測(cè)多個(gè)部位的位置。
上述部位檢測(cè)設(shè)備又具有識(shí)別信息分配塊,該識(shí)別信息分配塊被配置為向已被部位檢測(cè)塊檢測(cè)到位置的部位分配針對(duì)每個(gè)主體的不同識(shí)別信息。在此情況下,識(shí)別信息分配塊對(duì)已被關(guān)注部位估計(jì)塊估計(jì)位置的關(guān)注部位,分配與對(duì)用于估計(jì)的部位分配的識(shí)別信息基本相同的識(shí)別信息。
在上述部位檢測(cè)設(shè)備中,輸入圖像是構(gòu)成移動(dòng)圖像的幀。上述部位檢測(cè)設(shè)備還具有追蹤塊,追蹤塊被配置為追蹤關(guān)注部位的位置。
在上述部位檢測(cè)設(shè)備中,如果部位檢測(cè)塊未檢測(cè)到關(guān)注部位的位置而檢測(cè)到與關(guān)注部位不同的多個(gè)部位的位置,那么關(guān)注部位估計(jì)塊基于由部位檢測(cè)塊檢測(cè)到的多個(gè)部位的位置以及將檢測(cè)到的多個(gè)部位的位置用作參考的關(guān)于位置關(guān)系的信息,估計(jì)關(guān)注部位的位置。
上述部位檢測(cè)設(shè)備還具有屬性檢測(cè)塊,該屬性檢測(cè)塊被配置為,從由部位檢測(cè)塊檢測(cè)到的預(yù)定部位中檢測(cè)主體的屬性。在此情況下,關(guān)注部位估計(jì)塊參考針對(duì)每個(gè)屬性而準(zhǔn)備的關(guān)于位置關(guān)系的信息,以基于與屬性檢測(cè)塊檢測(cè)到的主體的屬性相對(duì)應(yīng)的關(guān)于位置關(guān)系的信息,估計(jì)關(guān)注部位的位置。
當(dāng)實(shí)施本公開時(shí),根據(jù)本公開的另一個(gè)實(shí)施例,提供了一種部位檢測(cè)方法。該部位檢測(cè)方法具有以下步驟:部位檢測(cè)步驟,從輸入圖像中檢測(cè)構(gòu)成主體的多個(gè)部位的位置;以及關(guān)注部位估計(jì)步驟,如果部位檢測(cè)步驟未檢測(cè)到關(guān)注部位的位置,則基于由部位檢測(cè)步驟檢測(cè)到的部位的位置以及將檢測(cè)到的部位的位置用作參考的關(guān)于位置關(guān)系的信息,估計(jì)關(guān)注部位的位置。
當(dāng)實(shí)施本公開時(shí),根據(jù)本公開的又一個(gè)實(shí)施例,提供了一種用于使計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)以下功能的程序:部位檢測(cè)功能,從輸入圖像中檢測(cè)構(gòu)成主體的多個(gè)部位的位置;以及關(guān)注部位估計(jì)功能,如果部位檢測(cè)功能未檢測(cè)到關(guān)注部位的位置,則基于由部位檢測(cè)功能檢測(cè)到的部位的位置以及將檢測(cè)到的部位的位置用作參考的關(guān)于位置關(guān)系的信息,估計(jì)關(guān)注部位的位置。此外,當(dāng)實(shí)施本公開時(shí),根據(jù)本公開的再一個(gè)實(shí)施例,提供了一種計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì),其中記錄有上述程序。
如上所述,根據(jù)本公開的實(shí)施例,可以估計(jì)不能由被配置為通過分析圖像的特征來檢測(cè)主體的部位的檢測(cè)器而檢測(cè)的部位的位置。
附圖說明
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于索尼公司,未經(jīng)索尼公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 專利分類
G06K 數(shù)據(jù)識(shí)別;數(shù)據(jù)表示;記錄載體;記錄載體的處理
G06K9-00 用于閱讀或識(shí)別印刷或書寫字符或者用于識(shí)別圖形,例如,指紋的方法或裝置
G06K9-03 .錯(cuò)誤的檢測(cè)或校正,例如,用重復(fù)掃描圖形的方法
G06K9-18 .應(yīng)用具有附加代碼標(biāo)記或含有代碼標(biāo)記的打印字符的,例如,由不同形狀的各個(gè)筆畫組成的,而且每個(gè)筆畫表示不同的代碼值的字符
G06K9-20 .圖像捕獲
G06K9-36 .圖像預(yù)處理,即無須判定關(guān)于圖像的同一性而進(jìn)行的圖像信息處理
G06K9-60 .圖像捕獲和多種預(yù)處理作用的組合
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
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