[發明專利]壓降測試系統、壓降控制裝置及其壓降測試方法

無效

• 申請號: 201110361967.9
• 申請日: 2011-11-15
• 公開（公告）號: CN103105546A
• 公開（公告）日: 2013-05-15
• 發明（設計）人: 陳聰淵;侯貴智;蔣文凱
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R19/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測試系統，更具體地，涉及一種基于Labview開發平臺的壓降測試系統、壓降控制裝置及其壓降測試方法。

背景技術

電子設備在出廠前都需要做EMI電磁干擾壓降測試，通常使用壓降測試儀對電子設備作壓降測試，如PLD(Power?line?disturbance)電源線干擾測試儀。在PLD測試儀測試之前，用戶通常會準備好一張如圖3所示的記錄表，該記錄表中記錄提供的電源電壓、多個壓降百分比及多個測試時間。每當測試時，電子設備電連接該PLD測試儀后，用戶手動在PLD測試儀上輸入記錄表中的各個測試數據來做壓降測試，用戶通過觀察判斷來測試結果及記錄該測試結果到記錄表相應位置中。然而，整個測試過程都需要用戶一直手動輸入測試數據及時刻盯著測試儀來獲取測試結果，這樣大大浪費人力和時間。

發明內容

為了解決上述存在的問題，本發明的目的在于，提供一種壓降測試系統，其用于對一待測電子設備做電磁干擾壓降測試，該壓降測試系統運行于一連接該待測電子設備的PLD(Power?line?disturbance)電源線干擾測試儀及一Labview開發平臺之間，該Labview開發平臺提供一壓降測試圖框，該壓降測試圖框定義有實現壓降測試所需的測試參數區域及測試結果標識區域，所述測試參數區域包括供電電壓區域、壓降百分比區域及測試時間區域；該壓降測試系統包括：一參數載入模塊，用于響應用戶的輸入把各測試數據載入到該壓降測試圖框中各個測試參數區域內；一數據傳輸模塊，用于將該壓降測試圖框中各個測試參數區域內的測試數據分組的傳輸到該PLD測試儀進行對該待測電子設備的壓降測試，每一組測試數據包括一供電電壓、一壓降百分比和一測試時間；一判斷模塊，用于當該數據傳輸模塊傳輸一組測試數據到該PLD測試儀測試時，判斷該組測試數據的測試時間結束后一預定時間內是否接收到來自該PLD測試儀的一電壓信號；一結果標識模塊，用于當該預定時間內接收到該電壓信號時，在該壓降測試圖框中將該組測試數據對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試通過；當該預定時間內沒有接收到該電壓信號時，在該壓降測試圖框中將該組測試數據對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試失敗；及一輸出控制模塊，用于將各測試結果輸出顯示于該壓降測試圖框中；其中，當該判斷模塊在該預定時間內接收到來自該PLD測試儀的電壓信號時，該數據傳輸模塊傳輸該壓降測試圖框中的另一組測試數據到該PLD測試儀測試。

一種壓降控制裝置，其連接一PLD(Power?line?disturbance)電源線干擾測試儀共同對一待測電子設備做電磁干擾壓降測試，該壓降控制裝置運行于一Labview開發平臺上，該Labview開發平臺提供一壓降測試圖框，該壓降測試圖框定義有實現壓降測試所需的測試參數區域及測試結果標識區域，所述測試參數區域包括供電電壓區域、壓降百分比區域及測試時間區域；該壓降控制裝置包括：一參數載入模塊，用于響應用戶的輸入把各測試數據載入到該壓降測試圖框中各個測試參數區域內；一數據傳輸模塊，用于將該壓降測試圖框中各個測試參數區域內的測試數據分組的傳輸到該PLD測試儀進行對該待測電子設備的壓降測試，每一組測試數據包括一供電電壓、一壓降百分比和一測試時間；一判斷模塊，用于當該數據傳輸模塊傳輸一組測試數據到該PLD測試儀測試時，判斷該組測試數據的測試時間結束后一預定時間內是否接收到來自該PLD測試儀的一電壓信號；一結果標識模塊，用于當該預定時間內接收到該電壓信號時，在該壓降測試圖框中將該組測試數據對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試通過；當該預定時間內沒有接收到該電壓信號時，在該壓降測試圖框中將該組測試數據對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試失敗；及一輸出控制模塊，用于將各測試結果輸出顯示于該壓降測試圖框中；其中，當該判斷模塊在該預定時間內接收到來自該PLD測試儀的電壓信號時，該數據傳輸模塊傳輸該壓降測試圖框中的另一組測試數據到該PLD測試儀測試。