[發(fā)明專(zhuān)利]用于模擬電路移植的電路優(yōu)化方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110361754.6
• 申請(qǐng)日: 2011-11-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102508977A
• 公開(kāi)（公告）日: 2012-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳玉平;陳嵐
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所
• 主分類(lèi)號(hào): G06F17/50
• 分類(lèi)號(hào): G06F17/50
• 代理公司: 中科專(zhuān)利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 王波波

1.一種用于模擬電路移植的電路優(yōu)化方法，所述模擬電路移植用于將源電路重用于目標(biāo)電路，所述電路優(yōu)化方法包括：

將源電路劃分成至少一個(gè)直流通路；

確定所述至少一個(gè)直流通路的順序；以及

按照所述順序逐個(gè)優(yōu)化目標(biāo)電路的直流通路。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路優(yōu)化方法，其中將源電路劃分成至少一個(gè)直流通路的步驟包括：

針對(duì)源電路，從電源端開(kāi)始，按照電流在器件內(nèi)的流動(dòng)方向遍歷器件，直到接地端，其中將連接在同一個(gè)電源端和同一個(gè)接地端之間的能夠獨(dú)立提供完整直流電流路徑的器件作為一個(gè)直流通路，以獲得所述至少一個(gè)直流通路。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路優(yōu)化方法，其中確定所述至少一個(gè)直流通路的順序的步驟包括：

針對(duì)源電路，從輸入端開(kāi)始，按信號(hào)傳播方向遍歷所述至少一個(gè)直流通路，直到輸出端，以獲得所述至少一個(gè)直流通路中的直流通路的信號(hào)到達(dá)順序；以及

根據(jù)信號(hào)到達(dá)順序確定所述至少一個(gè)直流通路的順序。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路優(yōu)化方法，其中按照所述順序逐個(gè)優(yōu)化目標(biāo)電路的直流通路的步驟包括：

設(shè)置目標(biāo)電路的每一個(gè)直流通路的器件參數(shù)值，使得目標(biāo)電路的每一個(gè)直流通路和源電路的相應(yīng)的一個(gè)直流通路的節(jié)點(diǎn)信號(hào)滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電路優(yōu)化方法，其中按照所述順序逐個(gè)優(yōu)化目標(biāo)電路的直流通路的步驟包括：

a)按照所述順序，選擇目標(biāo)電路的一個(gè)直流通路；

b)設(shè)置目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路中的器件參數(shù)值；

c)對(duì)目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路與在所述順序中位于所述一個(gè)直流通路之前的所有直流通路進(jìn)行目標(biāo)電路仿真；

d)分析目標(biāo)電路仿真結(jié)果，以獲得目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路的節(jié)點(diǎn)信號(hào)；

e)比較目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路和源電路的相應(yīng)的一個(gè)直流通路的節(jié)點(diǎn)信號(hào)；以及

f)根據(jù)優(yōu)化控制條件，重復(fù)步驟a)～e)，使得目標(biāo)電路的所有直流通路滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電路優(yōu)化方法，其中所述根據(jù)優(yōu)化控制條件，重復(fù)步驟a)～e)的步驟包括：

如果目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路未滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求，則重復(fù)步驟a)～e)，其中選擇新的器件參數(shù)值，以重新優(yōu)化目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路；

如果目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路已滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求，則重復(fù)步驟a)～e)，其中選擇目標(biāo)電路的下一個(gè)直流通路進(jìn)行優(yōu)化；以及

如果目標(biāo)電路的所有直流通路滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求，則結(jié)束電路優(yōu)化過(guò)程。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電路優(yōu)化方法，其中所述根據(jù)優(yōu)化控制條件，重復(fù)步驟a)～e)的步驟還包括：

如果模擬退火溫度和/或遺傳代導(dǎo)致無(wú)效的優(yōu)化嘗試次數(shù)超過(guò)極限值，則重復(fù)步驟a)～e)，其中改變模擬退火溫度下和/或遺傳代，以進(jìn)行新的電路優(yōu)化嘗試。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電路優(yōu)化方法，其中設(shè)置目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路中的器件參數(shù)值的步驟包括：

在目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路中，在器件參數(shù)優(yōu)化開(kāi)始時(shí)，設(shè)置目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路中的器件的初始參數(shù)值；以及

在目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路中，在器件參數(shù)優(yōu)化過(guò)程中，設(shè)置目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路中的器件的中間參數(shù)值。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電路優(yōu)化方法，其中設(shè)置目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路中的器件的初始參數(shù)值的步驟包括：

采用隨機(jī)方法確定目標(biāo)電路器件的初始參數(shù)值；或

根據(jù)源電路器件之間比例關(guān)系以及新舊工藝特征尺寸之間的比例關(guān)系確定目標(biāo)電路器件的初始參數(shù)值。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電路優(yōu)化方法，其中設(shè)置目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路中的器件的中間參數(shù)值的步驟包括：

采用隨機(jī)方法確定目標(biāo)電路器件的中間參數(shù)值；或

根據(jù)目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路的性能評(píng)估值與源電路的對(duì)應(yīng)的直流通路的性能值之間的差異幅度以及器件參數(shù)值對(duì)電路性能影響方向/趨勢(shì)/幅度確定對(duì)應(yīng)器件參數(shù)值的調(diào)整方向和調(diào)整幅度。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的電路優(yōu)化方法，其中設(shè)置目標(biāo)電路的所述一個(gè)直流通路中的器件的中間參數(shù)值的步驟包括：

對(duì)于多個(gè)電路性能指標(biāo)以線(xiàn)性規(guī)劃的方式確定最優(yōu)的器件參數(shù)值。