[發明專利]晶圓級單軸應變SGOI的制作方法有效
申請號: | 201110361525.4 | 申請日: | 2011-11-16 |
公開(公告)號: | CN102437054A | 公開(公告)日: | 2012-05-02 |
發明(設計)人: | 郝躍;王曉晨;戴顯英;金國強;李志;王琳;張鶴鳴 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
主分類號: | H01L21/324 | 分類號: | H01L21/324 |
代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 晶圓級單軸 應變 sgoi 制作方法 | ||
1.一種晶圓級單軸應變SGOI的制作方法,其特征在于,包括以下步驟:1)SGOI晶圓頂層SiGe層面向上或向下放置在弧形彎曲臺上;2)兩根圓柱形不銹鋼壓桿分別水平放置在SGOI晶圓兩端,距SGOI晶圓邊緣1cm;3)緩慢旋動連接壓桿的螺帽,使SGOI晶圓沿弧形臺面逐漸彎曲,直至SGOI晶圓完全與弧形臺面貼合;4)載有SGOI晶圓的弧形彎曲臺放置在退火爐中進行退火,退火溫度在200℃至1250℃范圍內可任意選擇;可在200℃下退火10小時,也可在800℃下退火2.5小時;5)退火結束后緩慢降溫至室溫,取出載有SGOI晶圓片的弧形彎曲臺;6)旋動連接壓桿的螺帽,將壓桿緩慢提升,直至彎曲的SGOI晶圓回復原狀。
2.根據權利要求1所述的的制作方法,其特征在于,所述的彎曲臺的曲率半徑可從1.2m到0.35m連續變化,其對應制作不同應變量的單軸應變SGOI晶圓;彎曲臺材料采用ZG40Cr25Ni20耐熱鋼材料或金屬鉬材料。
3.根據權利要求1所述的的制作方法,其特征在于,所述步驟4)的退火工藝為:在200℃下退火10小時;或者在800℃下退火2.5小時;或者在1250℃下退火1.5小時。
4.根據權利要求1所述的的制作方法,其特征在于,所述SGOI晶圓為4英寸、5英寸、6英寸、8英寸、12英寸的SGOI晶圓。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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