[發明專利]一種測試射頻放大器增益的裝置及方法

無效

• 申請號: 201110356069.4
• 申請日: 2011-11-11
• 公開（公告）號: CN103105576A
• 公開（公告）日: 2013-05-15
• 發明（設計）人: 趙志儒;閻躍鵬;于進勇;張曉飛
• 申請（專利權）人: 中國科學院微電子研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 周國城

1.一種對射頻放大器增益進行測試的裝置，其特征在于，該裝置包括功分器、第一對數檢波器和第二對數檢波器，其中功分器具有兩個輸出端，一個輸出端連接于第一對數檢波器，另一個輸出端通過待測放大器連接于第二對數檢波器。

2.根據權利要求1所述的對射頻放大器增益進行測試的裝置，其特征在于，所述功分器將接收的射頻功率分為兩路信號，其中一路進入待測放大器，另一路進入第一對數檢波器；

根據所述功分器的功分差、功分器接收的射頻功率和進入第一對數檢波器的射頻功率，計算得到進入待測放大器的射頻功率，該進入待測放大器的射頻功率即為待測放大器的輸入功率；

根據進入第二對數檢波器的射頻功率得到從待測放大器輸出的射頻功率，該從待測放大器輸出的射頻功率即為待測放大器的輸出功率。

3.根據權利要求2所述的對射頻放大器增益進行測試的裝置，其特征在于，所述待測放大器的功率增益為待測放大器輸出功率與待測放大器輸入功率的差值。

4.根據權利要求1所述的對射頻放大器增益進行測試的裝置，其特征在于，所述第一對數檢波器和所述第二對數檢波器用于將檢測到的功率轉化為電壓。

5.根據權利要求1所述的對射頻放大器增益進行測試的裝置，其特征在于，該裝置在待測放大器與第二對數檢波器之間進一步連接一個衰減器，用于將大功率衰減成小功率，以降低進入第二對數檢波器的功率。

6.一種對射頻放大器增益進行測試的方法，應用于權利要求1所述的裝置，其特征在于，包括：

步驟1：功分器將接收的射頻功率分為兩路信號，其中一路進入待測放大器，另一路進入第一對數檢波器；

步驟2：根據功分器的功分差、功分器接收的射頻功率和進入第一對數檢波器的射頻功率，計算得到進入待測放大器的射頻功率，該進入待測放大器的射頻功率即為待測放大器的輸入功率；

步驟3：根據進入第二對數檢波器的射頻功率得到從待測放大器輸出的射頻功率，該從待測放大器輸出的射頻功率即為待測放大器的輸出功率；

步驟4：計算待測放大器輸出功率與待測放大器輸入功率的差值，得到待測放大器的功率增益。

7.根據權利要求6所述的對射頻放大器增益進行測試的方法，其特征在于，在待測放大器與第二對數檢波器之間進一步連接一個衰減器，用于將大功率衰減成小功率，以降低進入第二對數檢波器的功率。