[發明專利]鈦白粉遮蓋力的測定方法有效
| 申請號： | 201110354783.X | 申請日： | 2011-11-10 |
| 公開（公告）號： | CN102507505A | 公開（公告）日： | 2012-06-20 |
| 發明（設計）人： | 杜長山;吳桂蘭;郭靖瑜;梁秀梅;劉燕珍 | 申請（專利權）人： | 攀枝花鼎星鈦業有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/55 | 分類號： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 成都虹橋專利事務所 51124 | 代理人： | 武森濤 |
| 地址： | 617009 四川省攀枝花市*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 鈦白粉 遮蓋 測定 方法 | ||
1.鈦白粉遮蓋力的測定方法，具體步驟為：
A將清漆與鈦白粉試樣攪拌混勻成鈦白粉漆漿；
B分別將鈦白粉漆漿涂刷在白板和黑板上形成涂膜，將涂膜室溫下風干；
C分別測定涂膜后的白板和黑板上的反射率，以黑板上的反射率除以白板上的反射率求得對比率，以此表征鈦白粉的遮蓋力。
2.根據權利要求1所述的鈦白粉遮蓋力的測定方法，其特征在于，步驟A中清漆與鈦白粉試樣的重量比為10∶1。
3.根據權利要求1或2所述的鈦白粉遮蓋力的測定方法，其特征在于，步驟B中形成的涂膜厚度一致。
4.根據權利要求1-3任一項所述的鈦白粉遮蓋力的測定方法，其特征在于，步驟B中涂膜室溫下風干0.5-6h。
5.鈦白粉遮蓋力的評價方法，具體步驟為：
(1)測定鈦白粉標樣的對比率：
將清漆與鈦白粉標樣攪拌混勻成鈦白粉漆漿，分別將鈦白粉漆漿涂刷在白板和黑板上形成涂膜，將涂膜室溫下風干；然后分別測定涂膜后的白板和黑板上的反射率，以黑板上的反射率除以白板上的反射率求得鈦白粉標樣的對比率；
(2)測定鈦白粉試樣的對比率：
將清漆與鈦白粉試樣攪拌混勻成鈦白粉漆漿，分別將鈦白粉漆漿涂刷在白板和黑板上形成涂膜，將涂膜室溫下風干；然后分別測定涂膜后的白板和黑板上的反射率，以黑板上的反射率除以白板上的反射率求得鈦白粉試樣的對比率；
(3)比較鈦白粉試樣和鈦白粉標樣的對比率，若鈦白粉試樣的對比率大于鈦白粉標樣的對比率，表明鈦白粉試樣遮蓋力大于鈦白粉標樣的遮蓋力。
6.根據權利要求5所述的鈦白粉遮蓋力的評價方法，其特征在于，步驟(1)中清漆與鈦白粉標樣的重量比為10∶1，步驟(2)中清漆與鈦白粉試樣的重量比為10∶1。
7.根據權利要求5或6所述的鈦白粉遮蓋力的評價方法，其特征在于，步驟(1)和步驟(2)中形成的涂膜厚度一致。
8.根據權利要求5-7任一項所述的鈦白粉遮蓋力的評價方法，其特征在于，步驟(1)和步驟(2)中涂膜室溫下風干0.5-6h。
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