[發明專利]一種基于測長儀的高精度螺紋塞規測量裝置及測量方法

有效

• 申請號: 201110353162.X
• 申請日: 2011-11-09
• 公開（公告）號: CN102506689A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發明（設計）人: 劉芳芳
• 申請（專利權）人: 上海市計量測試技術研究院
• 主分類號: G01B7/12
• 分類號: G01B7/12;G01B7/15
• 代理公司: 上海伯瑞杰知識產權代理有限公司 31227
• 代理人: 劉朵朵

1.一種基于測長儀的高精度螺紋塞規測量裝置，包括測長儀工作臺(1)，所述測長儀具有至少兩維坐標示值，測長儀工作臺(1)采用具有水平和垂直上下運動及繞運動軸線偏轉功能的工作臺，其特征在于：還包括測長儀主測桿(2)，所述測長儀主測桿(2)設置在測長儀工作臺(1)一側，其面向測長儀工作臺(1)的側面上設置有內測鉤(3)，內測鉤(3)前端安裝雙旁向電感測微儀(4)或軸向電感測微儀(5)，雙旁向電感測微儀(4)尖端安裝有球測頭(6)，在測長儀工作臺(1)上設置有將待測螺紋塞規橫向固定的測試夾具(7)，在測試夾具(7)旁位于測長儀主測桿(2)的內測鉤(3)對側的測長儀工作臺(1)上設置有固定架(8)，固定架(8)上安裝有導軌誤差補償軸向電感測微儀(9)，在所述導軌誤差補償軸向電感測微儀(9)的測頭下方設置有四方棱體(10)，所述四方棱體(10)安裝在固定于測長儀上的二維偏轉調節架(11)上。

2.如權利要求1所述的基于測長儀的高精度螺紋塞規測量裝置，其特征在于：所述測長儀上表面有X向導軌槽，X向為測長儀主測桿(2)的運動方向，所述二維偏轉調節架(11)通過設置在測長儀上表面的X向導軌槽上的固定基座(12)安裝在測長儀上，所述二維偏轉調節架(11)采用具有繞垂直于X向的Y向和垂直地面的Z向偏轉功能的調節架。

3.如權利要求1所述的基于測長儀的高精度螺紋塞規測量裝置，其特征在于：所述四方棱體(10)的兩垂直面之間的夾角的偏差小于0.5”。

4.如權利要求1所述的基于測長儀的高精度螺紋塞規測量裝置，其特征在于：所述測長儀主測桿(2)的內測鉤(3)采用弓形測量臂。

5.如權利要求1所述的基于測長儀的高精度螺紋塞規測量裝置，其特征在于：所述固定待測螺紋塞規的測試夾具(7)由設置在底板(701)上的前端板(702)、后端板(703)、后端板蓋板(704)組成，前端板(702)內側設置有前頂尖(705)，后端板(703)和后端板蓋板(704)間有通槽，將后頂尖桿(706)從通槽內穿過，待測螺紋塞規固定在所述前頂尖(705)和后頂尖桿(706)之間。

6.如權利要求5所述的基于測長儀的高精度螺紋塞規測量裝置，其特征在于：所述前頂尖(705)和后頂尖桿(706)位于同一軸線上，兩者之間的同軸度公差精度等級在4級以上。

7.一種采用如權利要求1所述的基于測長儀的高精度螺紋塞規測量裝置進行導軌誤差補償的調節方法，其特征在于該方法按如下步驟進行：

1)將軸向電感測微儀通過內測鉤安裝在測長儀主測桿的測頭座上；

2)將四方棱體固定在二維偏轉調整架上，并將二維偏轉調整架固定在固定基座上；

3)通過調節測長儀主測桿和工作臺，使軸向電感測微儀的測頭靠在四方棱體的X向側面上，然后，令其隨著測長儀主測桿沿X向運動，根據軸向電感測微儀的示值調節二維偏轉調整架的左右偏轉旋鈕，調節四方棱體X向側面與測長儀X向導軌平行；

4)將導軌誤差補償軸向電感測微儀通過固定架固定在測長儀工作臺上，并使其測頭靠在四方棱體的Y向側面上，調節測長儀工作臺沿Z向運動，根據導軌誤差補償電感測微儀的示值調節二維偏轉調整架的上下偏轉旋鈕，調節四方棱體的Y向側面與測長儀工作臺的Z向導軌平行；

5)重復步驟3)和步驟4)，直至四方棱體X向側面與測長儀X向導軌的平行度、以及四方棱體的Y向側面與測長儀工作臺Z向導軌的平行度均在0.5μm以內。