[發明專利]微波波束聚焦旋轉掃描裝置

有效

• 申請號: 201110352013.1
• 申請日: 2011-11-09
• 公開（公告）號: CN102508242A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發明（設計）人: 趙志欽;吳江牛;楊德強;聶在平
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01S13/89
• 分類號: G01S13/89;H01Q19/06;H01Q13/02
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 謝敏

1.微波波束聚焦旋轉掃描裝置，其特征在于：包括發射出線極化球面電磁波的喇叭天線（1）、將球面電磁波轉換為準平面電磁波的彎月形透鏡（2）、將準平面電磁波形成聚束波束的偏焦聚焦天線（3）及用于平移聚束波束的調焦板（4），所述喇叭天線（1）、彎月形透鏡（2）、偏焦聚焦天線（3）及調焦板（4）四者共軸設置，所述喇叭天線（1）設置在彎月形透鏡（2）的上方，所述彎月形透鏡（2）的底部與偏焦聚焦天線（3）的上端面接觸，所述調焦板（4）設置在偏焦聚焦天線（3）的下方。

2.根據權利要求1所述的微波波束聚焦旋轉掃描裝置，其特征在于：所述調焦板（4）的下方設置有聚焦平板（5），所述聚焦平板（5）與調焦板（4）共軸設置。

3.根據權利要求1所述的微波波束聚焦旋轉掃描裝置，其特征在于：所述彎月形透鏡（2）的上端面內凹構成球面，其下端面構成橢球面。

4.根據權利要求1所述的微波波束聚焦旋轉掃描裝置，其特征在于：所述偏焦聚焦天線（3）為圓形的偏焦聚焦介質透鏡，所述偏焦聚焦介質透鏡的下端面構成有圓心偏離中心軸的一個圓形介質凸透鏡、與圓形介質凸透鏡共圓心的多個鋸齒環和多個鋸齒弧，多個鋸齒環設置在圓形介質凸透鏡與鋸齒弧之間，鋸齒環的半徑大于圓形介質凸透鏡的半徑，圓形介質凸透鏡至鋸齒弧之間的鋸齒環的半徑依次增加，鋸齒環至偏焦聚介質透鏡下端面邊緣之間的鋸齒弧的半徑依次增加；所述圓形介質凸鏡下凸的中央部位、多個鋸齒環的底端及多個鋸齒弧的底端的水平位置相同，圓形介質凸透鏡至偏焦聚焦介質透鏡下端面邊緣之間的鋸齒弧和鋸齒環的角度漸變并依次增加，偏焦聚焦介質透鏡的聚焦軸穿過圓形介質凸透鏡的圓心。

5.根據權利要求4所述的微波波束聚焦旋轉掃描裝置，其特征在于：所述鋸齒環和鋸齒弧均由豎直端面及與豎直端面連接的弧形曲面構成，豎直端面相對弧形曲面靠近圓心。

6.根據權利要求4所述的微波波束聚焦旋轉掃描裝置，其特征在于：所述偏焦聚焦介質透鏡設有沿其中心軸的開孔。

7.根據權利要求1～6所述的任一種微波波束聚焦旋轉掃描裝置，其特征在于：所述彎月形透鏡（2）、偏焦聚焦天線（3）及調焦板（4）均由聚四氟乙烯制成。