[發明專利]熱障涂層孔隙率的微波相位檢測方法有效
| 申請號： | 201110351262.9 | 申請日： | 2011-11-08 |
| 公開（公告）號： | CN102564914A | 公開（公告）日： | 2012-07-11 |
| 發明（設計）人： | 何存富;楊玉娥;吳斌 | 申請（專利權）人： | 北京工業大學 |
| 主分類號： | G01N15/08 | 分類號： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 北京思海天達知識產權代理有限公司 11203 | 代理人： | 魏聿珠 |
| 地址： | 100124 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 熱障 涂層 孔隙率 微波 相位 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.熱障涂層孔隙率的微波相位檢測方法，其特征在于：所述的檢測方法步驟如下：
a、利用微波網絡分析儀測量熱障涂層的反射系數幅值A和相位φ，所測量的同組熱障涂層的厚度d相同；
b、根據反射系數幅值的計算公式和反射系數相位的計算公式計算出反射系數Γ；
其中，A為反射系數幅值；φ為反射系數相位；Γ為反射系數；
c、根據反射系數Γ的計算公式關系阻抗η的計算公式相位常數k的計算公式計算出熱障涂層的介電常數ε；
其中，Γ為反射系數；η為熱障涂層的波阻抗；k為相位常數；d為熱障涂層厚度；η0為自由空間的波阻抗；μ0為自由空間的磁導率；ε0為自由空間的介電常數；ε為熱障涂層的介電常數；
d、根據熱障涂層的介電常數ε與熱障涂層孔隙率ρ之間的關系公式
其中，ε為熱障涂層的介電常數；ρ為熱障涂層的孔隙率；εr0為無孔隙熱障涂層的介電常數；εair為空氣的介電常數；
e、利用以上計算結果建立微波反射系數相位與熱障涂層孔隙率的關系。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京工業大學，未經北京工業大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110351262.9/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
