[發明專利]固態成像設備和調節參考電壓的方法

無效

• 申請號: 201110349184.9
• 申請日: 2011-11-08
• 公開（公告）號: CN102469276A
• 公開（公告）日: 2012-05-23
• 發明（設計）人: 高宮健一;豐村純次
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: H04N5/369
• 分類號: H04N5/369;H04N5/374
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 黃小臨

1.一種固態成像設備，包括：

像素陣列單元，包括二維布置的多個像素和用于從多個像素讀出像素信號的多個讀出信號線；

測試電壓施加單元，被布置在讀出信號線處并且將各種電壓電平的測試電壓施加到讀出信號線；

參考電壓產生電路，包括用于產生參考電壓的MOS晶體管并且能夠改變MOS晶體管的工作點；和

工作點控制單元，基于測試電壓和參考電壓控制對MOS晶體管的工作點進行調節的處理。

2.根據權利要求1所述的固態成像設備，其中，參考電壓產生電路通過改變MOS晶體管的尺寸改變MOS晶體管的工作點。

3.根據權利要求2所述的固態成像設備，其中，MOS晶體管由能夠被并行驅動的多個子MOS晶體管構成，并且通過改變并行驅動的子MOS晶體管的數量改變MOS晶體管的尺寸。

4.根據權利要求1所述的固態成像設備，其中，通過使用參考電壓產生電路改變施加到MOS晶體管的反偏置電壓來改變MOS晶體管的工作點。

5.根據權利要求4所述的固態成像設備，其中，參考電壓產生電路包括改變施加到MOS晶體管的反偏置電壓的反偏置電壓產生電路。

6.根據權利要求1所述的固態成像設備，還包括：

電壓產生電路，將相應于測試電壓的控制電壓提供到測試電壓施加單元；和

垂直信號線連接開關，連接多個讀出信號線，并且當執行對布置在參考電壓產生電路內部的MOS晶體管的工作點的調節處理時平均施加到讀出信號線的電壓電平，

其中測試電壓施加單元由MOS晶體管構成，MOS晶體管的源極端子和漏極端子中的一個端子連接到相應的讀出信號線、另一個端子連接到源電壓，并且相應于測試電壓的控制電壓從電壓產生電路被施加到柵級端子。

7.根據權利要求6所述的固態成像設備，還包括：

控制電壓切換單元，在從電壓產生電路在第一時間段期間輸出的第一控制電壓和在第一時間段之后的第二時間段期間輸出的第二控制電壓之間切換，

其中第一時間段相應于在復位像素時的信號讀出時間段，并且第二時間段相應于在檢測像素的信號時的信號讀出時間段，并且

其中電壓產生電路不同地改變在第二時間段期間輸出的第二控制電壓的電壓電平。

8.根據權利要求1所述的固態成像設備，還包括：

調節值存儲單元，存儲對于參考電壓的多個預定的斜率設置的多個工作點調節值的數據，

其中當參考電壓的斜率改變時，工作點控制單元從調節量存儲單元中獲得相應于與改變后的參考電壓的斜率相同或最相近的斜率的工作點調節值，并且基于獲得的工作點調節值，控制對于布置在參考電壓產生電路內部的MOS晶體管的工作點的調節處理。

9.根據權利要求1所述的固態成像設備，

其中，測試電壓施加單元每預定時間將各種電壓電平的測試電壓施加到讀出信號線，并且

其中，工作點控制單元獲得測試電壓和相應于基于對于每個預定的時間段的參考電壓計算的測試電壓的輸出碼，基于獲得的輸出碼和測試電壓計算輸出碼的線性誤差，并且基于輸出碼的線性誤差的計算結果控制調節布置在參考電壓產生電路內部的MOS晶體管的工作點的處理。

10.根據權利要求9所述的固態成像設備，其中，工作點控制單元基于輸出碼的線性誤差的計算結果檢測在低亮度側和高亮度側上的最大線性誤差，并且基于在低亮度側和高亮度側上的最大線性誤差，控制調節布置在參考電壓產生電路內部的MOS晶體管的工作點的處理。

11.一種用于調節參考電壓的方法，該方法包括：

通過使用固態成像設備的測試電壓施加單元將各種電壓電平的測試電壓施加到讀出信號線，該固態成像設備包括具有二維布置的多個像素和用于從多個像素讀出像素信號的多個讀出信號線的像素陣列單元、布置在讀出信號線處的測試電壓施加單元、用于產生參考電壓的MOS晶體管、能夠改變MOS晶體管的工作點的參考電壓產生電路，和控制對布置在參考電壓產生電路內部的MOS晶體管的工作點的調節處理的工作點控制單元；

通過使用工作點控制單元，基于測試電壓和參考電壓，控制對MOS晶體管的工作點的調節處理。