[發明專利]含Cu量分層變化的銅銦鎵硒薄膜的磁控濺射制備方法無效
| 申請號: | 201110348538.8 | 申請日: | 2011-11-07 |
| 公開(公告)號: | CN102412341A | 公開(公告)日: | 2012-04-11 |
| 發明(設計)人: | 余洲;晏傳鵬;劉連;張勇;李珂;趙勇;劉斌 | 申請(專利權)人: | 西南交通大學;成都欣源光伏科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;C23C14/35 |
| 代理公司: | 成都博通專利事務所 51208 | 代理人: | 陳樹明 |
| 地址: | 610031 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | cu 分層 變化 銅銦鎵硒 薄膜 磁控濺射 制備 方法 | ||
1.一種含Cu量分層變化的銅銦鎵硒薄膜的磁控濺射制備方法,其做法是:將CuIn0.7Ga0.3Se2靶材交替進行低功率密度濺射和高功率密度濺射,交替次數至少為一次;每次交替中均先進行低功率密度濺射形成一層含Cu量高的沉積層,后進行高功率密度濺射形成含Cu量低的沉積層;最后在真空中熱處理形成含Cu量分層變化的CIGS光吸收層薄膜。
2.根據權利要求1所述的一種含Cu量分層變化的銅銦鎵硒薄膜的磁控濺射制備方法,其特征在于:所述的低功率密度濺射和高功率密度濺射交替進行次數為1-3次,對應形成2-6個不同Cu含量的沉積層。
3.根據權利要求1所述的一種含Cu量分層變化的銅銦鎵硒薄膜的磁控濺射制備方法,其特征在于:所述的低功率密度濺射的工藝條件為,功率密度0.5~4.0W/cm2,靶距為4~8cm,工作氣壓為0.1~4.0Pa,襯底溫度為室溫到300℃;所述的高功率密度濺射的工藝條件為,功率密度6.0~10.0W/cm2,靶距為4~8cm,工作氣壓為0.1~4.0Pa,襯底溫度為室溫到300℃;所述的真空中熱處理工藝條件為,在50~3000Pa的氬氣或氮氣氣氛中,升溫到380~550℃,保溫10~60min。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





