[發明專利]JTAG測試鏈路及其超聲診斷儀

有效

• 申請號: 201110346014.5
• 申請日: 2011-11-04
• 公開（公告）號: CN103091626A
• 公開（公告）日: 2013-05-08
• 發明（設計）人: 程東彪;陳筱勇;李鑫
• 申請（專利權）人: 深圳邁瑞生物醫療電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平

1.一種JTAG測試鏈路，包括局部板卡測試接口和整機測試接口，其特征在于，還包括多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關；

所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數據輸入線接口、局部板卡測試時鐘輸入接口以及局部板卡測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的高電位端；所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數據輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的高電位端；

所述整機測試接口中的整機測試數據輸入線接口、整機測試時鐘輸入接口以及整機測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的低電位端；所述整機測試接口中的整機測試數據輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的低電位端；

所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關包括電位控制端，當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為高電位時，所述局部板卡測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出；當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為低電位時，所述整機測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出。

2.如權利要求1所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括電位選擇接口，所述電位選擇接口連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端；

所述JTAG測試鏈路還包括JTAG測試插頭，所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述電位選擇接口對應的測試端子連接到高電位。

3.如權利要求2所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括高電位接口，所述高電位接口連接到供電電源，所述電位選擇接口連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端，并且通過電阻接地；

所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述高電位接口對應的測試端子和與所述電位選擇接口對應的測試端子短接。

4.如權利要求2所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括接地接口，所述接地接口連接到地，所述電位選擇接口通過反相器連接到所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端，并且在所述反相器和所述電位選擇接口之間通過電阻連接到供電電源；

所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述接地接口對應的測試端子和與所述電位選擇接口對應的測試端子短接。

5.一種JTAG測試鏈路，包括局部板卡測試接口和整機測試接口，其特征在于，還包括多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關；

所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數據輸入線接口、局部板卡測試時鐘輸入接口以及局部板卡測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的低電位端；所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數據輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的低電位端；

所述整機測試接口中的整機測試數據輸入線接口、整機測試時鐘輸入接口以及整機測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的高電位端；所述整機測試接口中的整機測試數據輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的高電位端；

所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關包括電位控制端，當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為低電位時，所述局部板卡測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出；當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為高電位時，所述整機測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出。

6.如權利要求5所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括電位選擇接口，所述電位選擇接口連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端；

所述JTAG測試鏈路還包括JTAG測試插頭，所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述電位選擇接口對應的測試端子連接到低電位。

7.如權利要求6所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括高電位接口，所述高電位接口連接到供電電源，所述電位選擇接口通過反相器連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端，并且在所述反相器與所述電位選擇接口之間通過電阻接地；

所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述高電位接口對應的測試端子和與所述電位選擇接口對應的測試端子短接。