[發明專利]一種存儲器老化測試裝置

無效

• 申請號: 201110345163.X
• 申請日: 2011-11-04
• 公開（公告）號: CN102385933A
• 公開（公告）日: 2012-03-21
• 發明（設計）人: 姜艷
• 申請（專利權）人: 姜艷
• 主分類號: G11C29/04
• 分類號: G11C29/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明公開了一種存儲器老化測試裝置，屬于電子技術領域。

背景技術

目前，人們為增加存儲器的容量又不增其成本，而趨向減少裝置結構的尺寸，然而，裝置結構的細微尺寸會造成相鄰布線間的距離縮減，而增加布線間的耦合電容，例如，連至記憶體晶胞之位元線間增加的寄生電容造成DRAM操作特性退化。

發明內容

本發明的目的是提供一種存儲器老化測試裝置，用以解決上述技術中的不足。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的：一種存儲器老化測試裝置，包括內部解碼器，組成內部解碼器的三個串聯的計數器，用來解碼輸出自計數器內部測試信號的解碼器，以及用來從一測試時鐘信號和一測試信號產生上數信號CUP的電路，計數器接收測試信號的邏輯值，同步與上數信號CUP的升起緣，并同步與上數信號CUP的下降緣地輸出所接收的邏輯值作為內部測試信號，解碼器解碼計數器保存在內部測試信號，并依據解碼結果輸出一寫入信號，圖樣選擇信號及一測試控制信號。

本發明的有益效果是：縮減了老化測試時間，降低測試成本。

附圖說明

圖1是本發明的結構示意圖

圖中：1、內部解碼器，2-1、計數器，2-2、計數器，2-3、計數器，3、解碼器，4、電路。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明作進一步說明。

如圖1所示，一種存儲器老化測試裝置，包括內部解碼器1，組成內部解碼器1的串聯計數器2-1，計數器2-2，計數器2-3，用來解碼輸出自計數器2-1，計數器2-2和計數器2-3內部測試信號IT3的解碼器3，以及用來從一測試時鐘信號CS和一測試信號TS產生上數信號CUP的電路4，計數器2-1，計數器2-2和計數器2-3接收測試信號TO的邏輯值，同步與上數信號CUP的升起緣，并同步與上數信號CUP的下降緣地輸出所接收的邏輯值作為內部測試信號IT2，解碼器3解碼計數器2-1，計數器2-2和計數器2-3保存在內部測試信號IT1，并依據解碼結果輸出一寫入信號WS，圖樣選擇信號DSS及一測試控制信號TCS。