[發明專利]高速調制光發射器件非線性諧波特性的光量化器

有效

• 申請號: 201110343445.6
• 申請日: 2011-11-03
• 公開（公告）號: CN102436113A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發明（設計）人: 劉建國;王佳勝;王禮賢;祝寧華
• 申請（專利權）人: 中國科學院半導體研究所
• 主分類號: G02F1/35
• 分類號: G02F1/35;G02F7/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 湯保平

1.一種基于高速調制光發射器件非線性諧波特性的高速光量化器，包括：

一高速微波電信號源；

一采樣光源，該采樣光源接收高速微波電信號源的信號；

一強度調制器，該強度調制器的輸入端與采樣光源的輸出端連接；

一高速光電探測器，該高速光電探測器的輸入端與強度調制器的輸出端連接；

一待測模擬微波信號源，該待測模擬微波信號源向強度調制器發送信號；

一線性電放大器，該線性電放大器接收高速光電探測器的信號；

一高速調制光發射器件，該高速調制光發射器件接收線性電放大器的信號；

一波導陣列光柵，該波導陣列光柵的輸入端與高速調制光發射器件的輸出端連接；

一并行高速光探測陣列，該并行高速光探測陣列的輸入端與波導陣列光柵的輸出端連接。

2.根據權利要求1所述的基于高速調制光發射器件非線性諧波特性的光量化器，其中采樣光源是級聯的激光器與強度調制器，或是高速鎖模激光器，或是基于增益開關的高速脈沖激光器。

3.根據權利要求1所述的基于高速調制光發射器件非線性諧波特性的光量化器，其中強度調制器是一個高消光比的鈮酸鋰強度調制器，其帶寬不小于采樣光源的帶寬。

4.根據權利要求1所述的基于高速調制光發射器件非線性諧波特性的光量化器，其中高速光電探測器的帶寬不小于采樣光源的帶寬。

5.根據權利要求1所述的基于高速調制光發射器件非線性諧波特性的光量化器，其中待測模擬微波信號源所發射微波信號的帶寬不大于采樣光源2帶寬的一半。

6.根據權利要求1所述的基于高速調制光發射器件非線性諧波特性的光量化器，其中線性電放大器的帶寬不小于采樣光源的帶寬。

7.根據權利要求1所述的基于高速調制光發射器件非線性諧波特性的光量化器，其中高速調制光發射器件為直接調制分布反饋模擬激光器，或是級聯的激光器與電吸收調制器，或是級聯的激光器與鈮酸鋰強度調制器，他們的帶寬不小于采樣光源的帶寬。

8.根據權利要求1所述的基于高速調制光發射器件非線性諧波特性的光量化器，其中波導陣列光柵的信道間隔與高速微波電信號源的帶寬相等。

9.根據權利要求1所述的基于高速調制光發射器件非線性諧波特性的光量化器，其中并行高速光探測器陣列是集成器件，或是分立器件，其單個探測器單元的帶寬不小于采樣光源的帶寬。