[發明專利]測定物體位置的裝置及方法

有效

• 申請號: 201110341787.4
• 申請日: 2011-11-02
• 公開（公告）號: CN103092429A
• 公開（公告）日: 2013-05-08
• 發明（設計）人: 林志雄
• 申請（專利權）人: 時代光電科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/042
• 分類號: G06F3/042
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 梁愛榮

1.一種測定物體位置的裝置，其特征在于包括：

一發光模塊；

一第一反射單元，為長條狀；

一第二反射單元，為長條狀；

一混合式反射單元，包括分別為長條狀呈“L”型的反射鏡及回射器所組成，該回射器置于該反射鏡的上方或下方其中之一；該混合式反射單元、該第一反射單元及第二反射單元圍成一個接近矩形的工作區；該第一反射單元及該第二反射單元分別位于該混合式反射單元的兩側端；該第一反射單元及該第二反射單元的接觸點為該工作區一角被設為基準點；該發光模塊由該基準點的位置發出光線照射整個該工作區或掃描整個該工作區其中之一；

一光偵測單元，通過該反射鏡偵測被至少一物體直接及間接阻擋的光線而得到的第一信號；并通過該回射器偵測被物體直接阻擋的光線而得到的第二信號；其中該第一信號包含對應于該物體的多個第一弱信號；該第二信號包含對應于該物體的至少一個第二弱信號；

一信號處理單元，電氣連接該光偵測單元；該信號處理單元處理該第一信號及該第二信號，得到被該物體直接及間接阻擋由基準點發出的光線分別與第一反射單元及第二反射單元之間對應于該第一弱信號的多個角度A1及對應于該第二弱信號的多個角度A2；

一微處理器，電氣連接該信號處理單元；該微處理器依據該多個角度A1分別與每一個該角度A2的組合分別轉換得到多個坐標；然后比對該多個坐標，由該多個坐標中選出至少有兩個坐標值相同的坐標，以確認物體在工作區的相對坐標。

2.如權利要求1所述的測定物體位置的裝置，其特征在于，該發光模塊位于該基準點的正下方或正下方其中之一接近該基準點的位置；該發光模塊包括LED光源或激光光源其中之一；該光偵測單位于該發光模塊的上方或下方其中之一。

3.如權利要求4所述的測定物體位置的裝置，其特征在于，該光偵測單位是一攝影機。

4.如權利要求3所述的測定物體位置的裝置，其特征在于，該發光模塊包括一掃描機構、一掃描鏡、一具有穿透孔的反射鏡或半反射鏡其中之一及一LED光源或激光光源其中之一的光源；該光源發出的光源穿過該反射鏡的穿透孔或半反射鏡其中之一至該掃描鏡，在該基準點的位置被該鏡反射至該工作區；該掃描機構帶動該掃描鏡快速掃描整個該工作區；該混合式反射單元反射的光線射至該反射鏡或半反射鏡其中之一，被該反射鏡或半反射鏡其中之一反射至該光偵測單元。

5.如權利要求1至4中任一項所述的測定物體位置的裝置，其特征在于，該第一反射單元及該第二反射單元分別為長條狀的回射器；該工作區是一觸控區。

6.一種測定物體位置的方法，是偵測至少一物體在一工作區的坐標；該工作區被一長條狀呈“L”型的混合式反射單元及長條型的第一反射單元及第二反射單元圍繞；該第一反射單元及該第二反射單元分別位于該混合式反射單元的兩側端；該第一反射單元及該第二反射單元的接觸點為該工作區的一角被設為一基準點；該混合式反射單元包括一反射鏡及一回射器；該回射器置于該反射鏡的上方或下方其中之一，包括如下步驟：

(1)使一發光模塊由該基準點的位置發出光線照射整個該工作區或掃描整個該工作區其中之一；

(2)使一光偵測單元分別偵測該發光模塊由該基準點的位置發出的光線被該反射鏡反射至該光偵測單元的光線，及被該物體直接阻擋及通過該反射鏡反射被該物體間接阻擋而無法被該反射鏡反射至該光偵測單元的光線而得到的第一信號，及被該回射器回射至該光偵測單元的光線及被該物體直接阻擋而無法被該回射器回射至該光偵測單元的光線而得到的第二信號；其中該第一信號包含對應于該物體的多個第一弱信號；該第二信號包含對應于該物體的至少一個第二弱信號；

(3)使一信號處理單元處理該第一信號及該第二信號，依據該第一弱信號及該第二弱信號分別出現在第一信號中及第二信號中的位置或時間其中之一，得到被該物體直接及間接阻擋由該基準點發出的光線分別與該第一反射單元及該第二反射單元之間對應于該第一弱信號的多個角度A1及對應于該第二弱信號的多個角度A2；

(4)使一微處理器依據該多個角度A1分別與每一個角度A2的組合分別轉換得到多個坐標；然后比對該多個坐標，由該多個坐標中選出至少有兩個坐標值相同的坐標，以確認物體在工作區的相對坐標。