[發明專利]一種伺服驅動器老化測試方法及系統

無效

• 申請號: 201110341318.2
• 申請日: 2011-11-02
• 公開（公告）號: CN102508484A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發明（設計）人: 王精
• 申請（專利權）人: 深圳市合信自動化技術有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 深圳匯智容達專利商標事務所(普通合伙) 44238
• 代理人: 潘中毅

1.一種伺服驅動器老化測試方法，其特征在于，包括：

將待測的第一、第二伺服驅動器分別與第一、第二伺服電機連接，所述第一伺服電機與第二伺服電機連接；

第一伺服驅動器驅動所述第一伺服電機，所述第二伺服電機作為所述第一伺服電機的負載；

檢測所述第一伺服驅動器或第二伺服驅動器在預置的測試時長內是否出現故障；若未出現故障，則判定第一伺服驅動器或第二伺服驅動器合格；若出現故障，則判定所述第一伺服驅動器或第二伺服驅動器不合格。

2.如權利要求1所述的伺服驅動器老化測試方法，其特征在于，所述將待測的第一、第二伺服驅動器分別與第一、第二伺服電機連接，所述第一伺服電機與第二伺服電機連接，包括：

將待測的第一、第二伺服驅動器分別與第一、第二伺服電機連接，且將第一、第二伺服驅動器置于高溫環境內；

將所述第一伺服電機與第二伺服電機通過輪軸連接，使所述第一伺服電機與第二伺服電機同步。

3.如權利要求1所述的伺服驅動器老化測試方法，其特征在于，所述第一伺服驅動器驅動所述第一伺服電機，所述第二伺服電機作為所述第一伺服電機的負載，包括：

第一伺服驅動器驅動所述第一伺服電機，第一伺服電機帶動作為其負載的第二伺服電機同步轉動；

第二伺服驅動器處于上電狀態，收集所述第二伺服電機轉動產生的電量，并循環利用。

4.如權利要求1所述的伺服驅動器老化測試方法，其特征在于，所述第一伺服驅動器驅動所述第一伺服電機，所述第二伺服電機作為所述第一伺服電機的負載之后，檢測所述第一伺服驅動器或第二伺服驅動器在預置的測試時長內是否出現故障之前，還包括：

第二伺服驅動器驅動所述第二伺服電機，所述第一伺服電機作為所述第二伺服電機的負載。

5.如權利要求4所述的伺服驅動器老化測試方法，其特征在于，所述第二伺服驅動器驅動所述第二伺服電機，所述第一伺服電機作為所述第二伺服電機的負載包括：

第二伺服驅動器驅動所述第二伺服電機，第二伺服電機帶動作為其負載的第一伺服電機同步轉動；

第一伺服驅動器處于上電狀態，收集所述第一伺服電機轉動產生的電量，并循環利用。

6.一種伺服驅動器老化測試系統，其特征在于，包括：

裝配模塊，用于將待測的第一、第二伺服驅動器分別與第一、第二伺服電機連接，所述第一伺服電機與第二伺服電機連接；

控制模塊，用于控制第一或第二伺服驅動器驅動其對應的伺服電機轉動，另一伺服電機作為轉動的伺服電機的負載；

檢測模塊，用于檢測所述第一伺服驅動器或第二伺服驅動器在測試時長內是否出現故障；若未出現故障，則判定所述第一伺服驅動器或第二伺服驅動器合格；若出現故障，則判定所述第一伺服驅動器或第二伺服驅動器不合格。

7.如權利要求6所述的伺服驅動器老化測試系統，其特征在于，所述裝配模塊包括：

裝配臺，用于將待測的第一、第二伺服驅動器分別與第一、第二伺服電機連接，并將所述第一伺服電機與第二伺服電機通過輪軸連接，使所述第一伺服電機與第二伺服電機同步；

高溫箱，用于放置所述第一、第二伺服驅動器，為所述第一、第二伺服驅動器提供高溫測試環境。

8.如權利要求6所述的伺服驅動器老化測試系統，其特征在于，所述控制模塊包括：

計時單元，用于預置對伺服驅動器進行老化測試的測試時長并計時；

控制單元，用于在測試時長的前半段控制第一伺服驅動器驅動第一伺服電機轉動，使第一伺服電機帶動第二伺服電機同步轉動，且控制第二伺服驅動器處于上電狀態；在測試時長的后半段控制第二伺服驅動器驅動第二伺服電機轉動，使第二伺服電機帶動第一伺服電機同步轉動，且控制第一伺服驅動器處于上電狀態。

9.如權利要求6所述的伺服驅動器老化測試系統，其特征在于，所述伺服驅動器老化測試系統還包括：

能量回饋模塊，用于收集所述第一伺服電機或第二伺服電機作為負載時轉動產生的電量，并循環利用為所述第一伺服驅動器和第二伺服驅動器的電源的補充。

10.如權利要求6所述的伺服驅動器老化測試系統，其特征在于，所述檢測模塊包括：

檢測單元，用于檢測所述第一伺服驅動器或第二伺服驅動器在其測試時長內是否出現故障；若未出現故障，則判定所述第一伺服驅動器或第二伺服驅動器合格；若出現故障，則判定所述第一伺服驅動器或第二伺服驅動器不合格；

人機接口，用于輸出所述檢測單元的檢測結果。