[發明專利]光掃描單元以及使用其的電子照相成像裝置

有效

• 申請號: 201110340760.3
• 申請日: 2011-11-02
• 公開（公告）號: CN102466881A
• 公開（公告）日: 2012-05-23
• 發明（設計）人: 樸基成
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G02B26/12
• 分類號: G02B26/12;G03G15/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 張波

1.一種光掃描單元，包括：

光源單元，發射多個光束；

光偏轉器，將從所述光源單元發出的所述多個光束偏轉在主掃描方向上；以及

入射光學系統，使得從所述光源單元發出的所述多個光束入射在所述光偏轉器的不同反射面上，

其中所述入射光學系統包括至少一個入射光路徑改變構件，該至少一個入射光路徑改變構件折轉所述多個光束在所述光源單元與所述光偏轉器之間的光路。

2.根據權利要求1所述的光掃描單元，其中：

所述光源單元包括多個光源以分別發射多個光束；以及

所述多個光源安裝在單個電路基板上。

3.根據權利要求1所述的光掃描單元，其中所述光偏轉器包括至少五個反射面。

4.根據權利要求3所述的光掃描單元，其中：

所述光偏轉器包括N個反射面；

主掃描入射角是入射到所述光偏轉器上的光束與被所述光偏轉器偏轉并朝向掃描面的中心行進的光束之間的角度；以及

所述入射光學系統使得從所述光源單元發出的多個光束以360°/N的主掃描入射角入射在所述光偏轉器上。

5.根據權利要求4所述的光掃描單元，其中所述光偏轉器在關于所述光偏轉器的相對兩側對稱地接收入射在第一反射面上的光束和入射在第二反射面上的光束。

6.根據權利要求4所述的光掃描單元，還包括：

同步檢測傳感器，檢測被所述光偏轉器偏轉的所述多個光束中的任意光束。

7.根據權利要求6所述的光掃描單元，其中所述同步檢測傳感器檢測被所述光偏轉器偏轉的所述多個光束中的任意光束的主掃描線的第一掃描端和第二掃描端之中的第一掃描端。

8.根據權利要求7所述的光掃描單元，還包括：

同步光路改變構件，設置在所述光偏轉器與所述同步檢測傳感器之間，并折轉光束的光路以檢測同步。

9.根據權利要求8所述的光掃描單元，其中所述同步檢測傳感器與所述多個光源一起安裝在單個電路基板上。

10.根據權利要求8所述的光掃描單元，其中所述同步光路改變構件與入射光路徑改變構件在入射光學系統中形成為一體，該入射光路徑改變構件折轉所述光束的路徑以檢測同步。

11.根據權利要求6所述的光掃描單元，還包括：

同步檢測透鏡，設置在所述光檢測器與所述同步檢測傳感器之間。

12.根據權利要求1所述的光掃描單元，其中：

所述光源單元包括分別發射第一至第四光束的第一至第四光源；以及

所述入射光學系統使從所述第一和第二光源發出的所述第一和第二光束入射在所述光偏轉器的第一反射面上，并使從所述第三和第四光源發出的所述第三和第四光束入射在所述光偏轉器的第二反射面上。

13.根據權利要求12所述的光掃描單元，其中：

入射在所述光偏轉器的反射面上的光束在輔助掃描方向上的入射角被稱為輔助掃描入射角；以及

所述入射光學系統使從所述第一和第二光源發出的所述第一和第二光束以不同的輔助掃描入射角入射在所述光偏轉器的所述第一反射面上，并使從所述第三和第三光源發出的所述第三和第四光束以不同的輔助掃描入射角入射在所述光偏轉器的所述第二反射面上。

14.根據權利要求13所述的光掃描單元，其中所述第一至第四光束的輔助掃描入射角在從0到10度的范圍內。

15.一種成像裝置，包括：

根據權利要求1至14中任一項所述的光掃描單元；

顯影單元，設置在從所述光掃描單元發出的所述多個光束的每一個的成像點處，并包括多個光電導體和顯影輥，各個靜電潛像根據所述多個光束形成在該多個光電導體上，該顯影輥使形成在所述多個光電導體上的所述靜電潛像顯影；以及

轉印單元，被所述顯影單元顯影的圖像被轉印到該轉印單元上，

其中所述入射光學系統包括至少一個入射光路徑改變構件，該至少一個入射光路徑改變構件折轉所述多個光束在所述光源與所述光偏轉器之間的光路。