[發明專利]一種高采樣精度的RSSI監測電路

無效

• 申請號: 201110340557.6
• 申請日: 2011-11-02
• 公開（公告）號: CN102394694A
• 公開（公告）日: 2012-03-28
• 發明（設計）人: 鄧彬
• 申請（專利權）人: 成都優博創技術有限公司
• 主分類號: H04B10/08
• 分類號: H04B10/08
• 代理公司: 泰和泰律師事務所 51219
• 代理人: 曾祥坤;楊栩

1.一種高采樣精度的RSSI監測電路，包括APD、MCU、寄存器，其特征在于：

還包括鏡像電流電路、強光路、弱光路；

鏡像電流電路接收來自APD的電流信號，并向強光路和弱光路同時分別輸出與APD電流信號相同的鏡像電流信號；

所述強光路包括強光跨阻放大器、強光采樣保持電路、以及MCU提供的強光ADC，強光跨阻放大器將來自APD的鏡像電流信號轉換為強光電壓信號并放大，強光采樣保持電路對強光電壓信號進行保持處理，強光ADC將強光電壓信號轉換為強光數字信號，MCU將強光數字信號與MCU內部的強光查找表進行對比得到強光光功率數值；

所述弱光路包括弱光跨阻放大器、弱光采樣保持電路、以及MCU提供的弱光ADC，弱光跨阻放大器將來自APD的鏡像電流信號轉換為弱光電壓信號并放大，弱光采樣保持電路對弱光電壓信號進行保持處理，弱光ADC將弱光電壓信號轉換為弱光數字信號，MCU將弱光數字信號與MCU內部的弱光查找表對比得到弱光光功率數值；

MCU對強光光功率數值與弱光光功率數值進行對比處理后，將得到的結果光功率數值存入寄存器供上位機讀取。

2.根據權利要求1所述高采樣精度的RSSI監測電路，其特征在于：

所述強光跨阻放大器的增益跨阻為200歐到600歐。

3.根據權利要求1所述高采樣精度的RSSI監測電路，其特征在于：

所述弱光跨阻放大器的增益跨阻為800歐到2000歐。

4.根據權利要求1所述高采樣精度的RSSI監測電路，其特征在于：

所述強光查找表的查找范圍為強光上限到n?dbm，n為實數且大于等于弱光下限；

所述弱光查找表的查找范圍為m?dbm到弱光下限，m為實數且小于等于強光上限。

5.根據權利要求4所述高采樣精度的RSSI監測電路，其特征在于：

m大于等于n，m?dbm到n?dbm為滯回區間。

6.根據權利要求4所述高采樣精度的RSSI監測電路，其特征在于：

所述強光查找表和弱光查找表的相鄰校準值之間間隔為0.5dbm。