[發(fā)明專利]一種雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測量方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110339717.5
• 申請日: 2011-11-01
• 公開（公告）號: CN102426299A
• 公開（公告）日: 2012-04-25
• 發(fā)明（設計）人: 謝永樂;侯照臨;姜書艷
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 成都賽恩斯知識產權代理事務所(普通合伙) 51212
• 代理人: 王璐瑤

1.一種雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測量方法，其特征在于：所述雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測量方法步驟如下：

(1)選取一副微帶線圖案，在仿真軟件中進行繪制；同時在仿真軟件中，設置被測雙面敷金屬箔板的已知參數(shù)，定義信號輸入口和信號輸出口；所述被測雙面敷金屬箔板的已知參數(shù)包括雙面敷金屬箔板板厚、敷金屬厚度、敷金屬的電導率、敷金屬的磁導率、敷金屬的損耗角正切值、敷金屬表面光滑程度和封裝空間大小；

(2)在所述仿真軟件中設定至少一個雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)進行仿真，獲得與設定的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)相對應的至少一組仿真數(shù)據(jù)；所述仿真數(shù)據(jù)為散射參量、或駐波比參數(shù)、或相位參數(shù)、或特征阻抗參數(shù)；

(3)將被測雙面敷金屬箔板按照步驟(1)中選取的微帶線圖案加工成為印制板；

(4)對步驟(3)中加工獲得的印制板進行測量，獲取電路響應數(shù)據(jù)；所述電路響應數(shù)據(jù)為散射參量、或駐波比參數(shù)、或相位參數(shù)、或特征阻抗參數(shù)；

(5)使用擬合算法，將步驟(4)中獲取的電路響應數(shù)據(jù)與步驟(2)中獲得的仿真數(shù)據(jù)進行擬合運算，找出與步驟(4)中獲取的電路響應數(shù)據(jù)相似程度最高的一組仿真數(shù)據(jù)；所述被找出的一組仿真數(shù)據(jù)所對應的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)即為被測雙面敷金屬箔板的有效介電常數(shù)。

2.根據(jù)權利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測量方法，其特征在于：步驟(1)中選取的微帶線圖案為矩形微帶線。

3.根據(jù)權利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測量方法，其特征在于：所述散射參量為S11或S22。

4.根據(jù)權利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測量方法，其特征在于：所述仿真軟件為安捷倫公司的ADS射頻微波仿真軟件。

5.根據(jù)權利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測量方法，其特征在于：步驟(4)中對印制板進行測量使用的是矢量網(wǎng)絡分析儀。

6.根據(jù)權利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測量方法，其特征在于：所述擬合算法為極值點比較法。

7.根據(jù)權利要求1所述的雙面敷金屬箔板有效介電常數(shù)的測量方法，其特征在于：所述雙面敷金屬箔板為雙面敷銅箔板。