[發明專利]高壓肖特基二極管及其制作方法有效
| 申請號: | 201110339641.6 | 申請日: | 2011-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN103094359A | 公開(公告)日: | 2013-05-08 |
| 發明(設計)人: | 顧力暉 | 申請(專利權)人: | 無錫華潤上華半導體有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/872 | 分類號: | H01L29/872;H01L29/06;H01L21/329 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮;李辰 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 高壓 肖特基 二極管 及其 制作方法 | ||
技術領域
本發明涉及半導體制造技術領域,更具體地說,涉及一種高壓肖特基二極管及其制作方法。
背景技術
在高壓集成電路(簡稱HVIC)中,經常會用到自舉二極管,以一半橋驅動電路為例,參見圖1,為一半橋驅動電路,其工作過程為:當浮動電源端VS為低電平時,VCC通過自舉二極管11對自舉電容2充電,同時給高壓側的電源VB供電,當VS端加高壓時,通過自舉電容2的作用,VS端的電壓超過VCC端的電壓,自舉二極管1進入反向截止狀態,此時,通過自舉電容2對高壓側的電路供電。該過程中,自舉二極管需要承受高壓,并要求該自舉二極管具有漏電小和快恢復的特性,普通肖特基二極管具有開關快速的特性,即能夠實現快速恢復,但是卻不能承受高壓,從而不適合作為自舉二極管使用。
現有技術中的高壓集成電路中,為實現上述自舉二極管的功能,一般采用外置的分立器件,或將二極管芯片和高壓集成電路芯片封裝在一起,但其本質相同,即采用外置一耐高壓快恢復的二極管的方式來實現電壓自舉,以給高壓側電路供電,如圖1所示,從而增加了外圍電路設計的復雜性,并增加了電路的調試難度,提高了電路系統的生產成本。
發明內容
本發明實施例提供了一種高壓肖特基二極管及其制作方法,該肖特基二極管能夠承受高壓,可用作自舉二極管,其制作過程與CMOS工藝兼容,從而可將該肖特基二極管集成在高壓集成電路中。
為實現上述目的,本發明實施例提供了如下技術方案:
一種高壓肖特基二極管,包括:
基底,所述基底包括一P型襯底以及位于所述P型襯底表面內的兩個N型埋層,其中,第一N型埋層位于該肖特基二極管的陰極引出區的下方,第二N型埋層位于該肖特基二極管陰極區的下方;
位于所述P型襯底表面上的外延層;
位于所述外延層表面內的兩個N型阱區,其中第一N型阱區表面內具有一陰極引出區,該第一N型阱區為該肖特基二極管的橫向漂移區,可承受高壓,第二N型阱區位于所述第二N型埋層表面上,該第二N型阱區為該肖特基二極管的陰極區;
位于所述第二N型埋層表面上,且包圍所述陰極區的第一P型阱區,以保護該肖特基二極管的邊緣,減少漏電,提高耐壓;
位于所述橫向漂移區表面上的場氧隔離區,以隔離該肖特基二極管的陽極和陰極;
位于所述陰極區表面上的金屬層,作為該肖特基二極管的陽極,位于所述陰極引出區表面上的金屬層,以引出該肖特基二極管的陰極。
優選的,還包括:
位于靠近漂移區一側的部分第一P型阱區和漂移區表面上的柵區,所述柵區未覆蓋所述陰極區表面;
位于所述場氧隔離區和所述柵區表面上的介質層,所述介質層未覆蓋該肖特基二極管的陽極和陰極。
優選的,在高壓集成電路中,該肖特基二極管的陽極與該高壓集成電路低壓部分的電源端相連,且其陰極與該高壓集成電路高盆部分的電源端相連。
優選的,在高壓集成電路中,與該肖特基二極管相連,且用于引出高壓集成電路襯底電位的電路結構包括:
位于所述P型襯底表面內的P型埋層;
位于所述外延層表面內,且位于P型埋層表面上的第二P型阱區,所述第二P型阱區與所述第一P型阱區在同一注入過程中形成;
包圍所述第二P型阱區的第三N型阱區,所述第三N型阱區緊鄰所述第一P型阱區,所述第三N型阱區與該肖特基二極管的兩個N型阱區在同一注入過程中形成;
位于所述第二P型阱區表面內的襯底電位引出區,位于該襯底電位引出區表面上的金屬層,以引出襯底電位;
位于所述第三N型阱區表面上的場氧隔離區,該場氧隔離區未覆蓋所述襯底電位引出區。
優選的,所述襯底電位引出區為P型重摻雜區,所述陰極引出區為N型重摻雜區。
優選的,所述第一N型埋層和第二N型埋層為N型輕摻雜區。
優選的,所述橫向漂移區、陰極區和所述第三N型阱區為N型輕摻雜區。
優選的,所述作為該肖特基二極管陽極的金屬層材料為金、銀、鋁、鉑或鉬。
本發明實施例還公開了一種高壓肖特基二極管制作方法,包括:
提供基底,所述基底包括一P型襯底以及位于所述P型襯底表面內的兩個N型埋層;
在所述P型襯底表面上形成外延層;
在所述外延層表面上形成注入阻擋層,在所述注入阻擋層表面上形成刻蝕阻擋層,在所述刻蝕阻擋層上形成兩個N型阱區圖形;
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