[發明專利]一種氣體渦輪流量計的儀表系數自校正方法

無效

• 申請號: 201110338962.4
• 申請日: 2011-11-01
• 公開（公告）號: CN102393236A
• 公開（公告）日: 2012-03-28
• 發明（設計）人: 阮曉東;秦龍輝;胡亮;王利軍
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01F25/00
• 分類號: G01F25/00
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 林懷禹

1.一種氣體渦輪流量計的儀表系數自校正方法，其特征在于：在流量計殼體（1）內植入兩個電磁線圈（3、4），根據設定的間隔時間，施加固定檢測力等效模擬流體對渦輪葉片的軸向沖擊力，根據檢流器（5）測得的頻率求出此檢測力對應的頻率變化量，然后利用流量與頻率變化量之間的關系計算出新的儀表系數，根據更新后的儀表系數，得出流量測量值。

2.根據權利要求1所述的一種氣體渦輪流量計的儀表系數自校正方法，其特征在于：所述的流量計殼體（1）內植入兩個電磁線圈（3、4）的位置必須關于殼體（1）的中心軸線對稱，以使兩個電磁線圈（3、4）對渦輪（2）的合力方向為軸向。

3.根據權利要求1所述的一種氣體渦輪流量計的儀表系數自校正方法，其特征在于：所述的間隔時間由用戶根據實際流量計儀表系數變化的快慢，通過流量計二次儀表程序進行設定；所施加的檢測力，為兩個電磁線圈（3、4）施加在渦輪（2）上的軸向合力△F，檢測力的大小為流量計3%～5%滿量程的流量所對應的渦輪推動力，且在儀表系數診斷期間軸向力保持不變；施加檢測力的持續時間由流量計程序根據當前渦輪轉動頻率進行控制，持續時間必須大于一個當前渦輪轉動周期。

4.根據權利要求1所述的一種氣體渦輪流量計的儀表系數自校正方法，其特征在于：所述的檢流器（5）測量出施加檢測力前后的頻率變化量，根據檢測力與渦輪葉片旋轉頻率之間的正比關系，由公式k₂^’=△F/(?f₁-f₀）計算出新的儀表系數，更新原有的儀表系數，最后再由公式q=kf₀=?f₀*k₁△F/(?f₁-f₀）求出流量值；式中：k₂^’為系數2，△F為固定檢測力，f₁為施加檢測力后檢流器測得的頻率，f₀為施加檢測力前檢流器測得的頻率，q為體積流量，k為總的儀表系數，k₁為系數1。