[發明專利]一種能測量材料光學非線性的相位光闌無效
| 申請號： | 201110338924.9 | 申請日： | 2011-11-01 |
| 公開（公告）號： | CN102385093A | 公開（公告）日： | 2012-03-21 |
| 發明（設計）人： | 宋瑛;林聶;仲泉;劉南春;石光;楊俊義 | 申請（專利權）人： | 常熟微納激光光子技術有限公司 |
| 主分類號： | G02B5/30 | 分類號： | G02B5/30;G01N21/41 |
| 代理公司： | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 215500 江蘇省蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測量 材料 光學 非線性 相位 光闌 | ||
【權利要求書】：
1.一種能測量材料光學非線性的相位光闌(2)，包括相位物體(13)，所述相位物體(13)與相位光闌(2)之間相位延遲為π/2，其特征在于：所述相位物體(13)為對稱的方形。
2.根據權利要求1所述的一種能測量材料光學非線性的相位光闌(2)，其特征在于：所述相位物體(13)為透明介質薄膜形成。
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