[發明專利]一種面向嵌入式系統的磁盤I/O測試系統

有效

• 申請號: 201110338244.7
• 申請日: 2011-10-31
• 公開（公告）號: CN102393829A
• 公開（公告）日: 2012-03-28
• 發明（設計）人: 劉發貴;張曉杰;劉飛;謝然
• 申請（專利權）人: 華南理工大學
• 主分類號: G06F11/267
• 分類號: G06F11/267
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 邱奕才

1.一種面向嵌入式系統的磁盤I/O測試系統，包括客戶端、目標機端，客戶端與目標機端網絡連接，其特征在于：

所述客戶端包括：

傳輸控制模塊，用于接收顯示交換模塊的測試指令并向目標機端的測試代理模塊轉發該測試指令，以及轉發測試代理模塊返回的測試數據至數據處理模塊；

數據處理模塊，用于處理接收到的測試數據，并將處理后的測試數據輸出至顯示交換模塊；

顯示交換模塊，用于顯示接收到的測試數據，以及接受用戶的測試指令輸入并轉發測試指令至傳輸控制模塊；

所述目標機端包括：

測試代理模塊，用于接測試指令并發送測試指令至測試執行模塊，并轉發測試執行模塊返回的測試數據至客戶端的傳輸控制模塊；

測試執行模塊，用于執行接收到的測試指令，返回測試數據。

2.根據權利要求1所述的面向嵌入式系統的磁盤I/O測試系統，其特征在于測試執行模塊包括：

磁盤I/O性能測試子模塊，通過人為產生負載對磁盤的I/O性能進行測試；

系統I/O監測子模塊，通過文件系統動態從系統內核讀出信息，對整個系統的磁盤I/O情況的監測；

進程I/O監測子模塊，在進程I/O操作開始時獲取時間，I/O操作結束時在回調函數處再獲取時間，并返回獲取的進程信息；

I/O?trace收集器子模塊，在驅動程序的ATA層截獲I/O信息。

3.根據權利要求2所述的面向嵌入式系統的磁盤I/O測試系統，其特征在于所述的通過人為產生負載對磁盤的I/O性能進行測試包括以下步驟：首先按字符寫，發送測試結果給客戶端，再按字符讀，發送測試結果，再按塊寫，發送測試結果，最后按塊讀，發送測試結果，刪除測試文件，完成整個測試。

4.根據權利要求2所述的面向嵌入式系統的磁盤I/O測試系統，其特征在于：所述的文件系統為/proc文件系統。

5.根據權利要求1所述的面向嵌入式系統的磁盤I/O測試系統，其特征在于：客戶端還包括用于儲存測試數據的數據庫模塊。

6.根據權利要求1所述的面向嵌入式系統的磁盤I/O測試系統，其特征在于：所述的測試執行模塊運行于嵌入式Linux的內核空間中。