[發明專利]一種水稻移栽后密度自動檢測的方法有效
| 申請號: | 201110336855.8 | 申請日: | 2011-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN102542560A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發明(設計)人: | 曹治國;白曉東;余正泓;鄢睿丞;吳茜;王玉;張雪芬;薛紅喜;李翠娜 | 申請(專利權)人: | 華中科技大學 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 華中科技大學專利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 水稻 移栽 密度 自動檢測 方法 | ||
1.一種水稻移栽后密度自動檢測方法,具體為:
對水稻圖像進行二值分割;
初始化R個半徑不同的圓形狀結構元素StrEroded;
利用R個圓形狀結構元素StrEroded對分割得到的二值圖像進行腐蝕得到R個腐蝕結果bwerodetR;
創建L個邊長不同的方形形狀結構元素StrDilate;
利用L個方形形狀結構元素StrDilate對腐蝕結果bwerodetR進行膨脹,得到R×L個膨脹結果bwdilatetRL;
檢測各膨脹結果bwdilatetRL的異常連通域數量;
選取異常連通域數量從急劇下降到緩慢下降的轉折點對應的方形形狀結構元素作為最優結構膨脹元素;
利用最優膨脹元素對腐蝕結果bwerodetR進行膨脹;
從利用最優膨脹結構元素對腐蝕結果bwerodetR進行膨脹的結果中選取連通域數量最多對應的圓形狀結構元素為最優腐蝕結構元素;
利用最優腐蝕結構元素和最優膨脹結構元素對二值圖像進行先腐蝕再膨脹得到BWEDt;
統計BWEDt的連通域個數RegionNumt;
計算水稻密度
2.根據權利要求1所述的水稻移栽后密度自動檢測方法,其特征在于,所述
異常連通域是指滿足公式(1)或(2)的連通域;
Distance≤K1×MinDist????(1)
Distance為本連通域與其它連通域質心的最短歐式距離,MinDist為所有連通域的Distance的均值,0.3≤K1≤0.6;
Pixnum為本連通域的像素數,MinPixnum為所有連通域的Pixnum的均值,0.15≤K2≤1,2≤K3≤3。
3.根據權利要求1所述的水稻移栽后密度自動檢測方法,其特征在于,在計算水稻密度步驟之前對所述BWEDt作去噪或/和連通域斷開操作。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華中科技大學,未經華中科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110336855.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





