[發明專利]用于待測功率器件的零安培電平電流數據校正有效
| 申請號: | 201110336772.9 | 申請日: | 2011-10-21 |
| 公開(公告)號: | CN102645567A | 公開(公告)日: | 2012-08-22 |
| 發明(設計)人: | T·米亞扎基 | 申請(專利權)人: | 特克特朗尼克公司 |
| 主分類號: | G01R15/18 | 分類號: | G01R15/18 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李湘;王忠忠 |
| 地址: | 美國俄*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 功率 器件 安培 電平 電流 數據 校正 | ||
1.一種用于校正表示來自待測器件的電流信號的電流數據樣本的方法,包括步驟:
利用耦聯至所述待測器件的電流傳感器接收所述電流信號并產生表示來自所述待測器件的所述電流信號的電流數據樣本;
利用電壓探針接收與來自所述待測器件的所述電流信號對應的電壓信號并產生表示所述電壓信號的電壓數據樣本;
提取表示所述電流數據樣本與零安培電平的偏差的電流波動數據樣本,所述電流波動數據樣本與所述待測器件的關斷周期對應,通過在所述電壓數據樣本中檢測所述待測器件相應的關斷周期得到所述待測器件的關斷周期;
內插所述待測器件的所述關斷周期的所述電流波動數據樣本,用于產生與所述待測器件的導通周期對應的電流波動數據樣本;
從表示所述電流信號的所述電流數據樣本減去與所述待測器件的所述關斷周期和導通周期對應的所述電流波動數據樣本,以產生校正的零安培電平電流數據樣本;以及
利用所述校正的零安培電平電流數據樣本產生波形顯示。
2.根據權利要求1所述的用于校正表示來自待測器件的電流信號的電流數據樣本的方法,還包括步驟:
指定圍繞所述校正的零安培電平電流數據樣本的零安培電平的誤差抵消范圍;以及
通過將在所述誤差抵消范圍內的所述校正的零安培電平電流數據樣本變成零來修改所述校正的零安培電平電流數據樣本。
3.一種用于校正表示來自待測器件的電流信號的電流數據樣本的設備,包括:
第一采集電路系統,其接收來自所述待測器件的所述電流信號并產生表示所述電流信號的電流數據樣本;
第二采集電路系統,其接收來自所述待測器件的、與所述電流信號對應的電壓信號并產生表示所述電壓信號的電壓數據樣本;以及
控制器,其接收所述電流數據樣本和電壓數據樣本并提取表示所述電流數據樣本與零安培電平的偏差的電流波動數據,所述電流波動數據樣本與所述待測器件的關斷周期對應,通過在所述電壓數據樣本中檢測所述待測器件相應的關斷周期得到所述待測器件的關斷周期,通過內插與所述待測器件的所述關斷周期對應的所述電流波動數據樣本產生與所述待測器件的導通周期對應的電流波動數據樣本,從表示所述電流信號的電流數據樣本減去與所述待測器件的所述關斷周期和所述導通周期對應的所述電流波動數據樣本以產生校正的零安培電平電流數據樣本,和利用所述校正的零安培電平電流數據樣本產生波形顯示。
4.根據權利要求3所述的用于校正表示來自待測器件的電流信號的電流數據樣本的設備,還包括用戶接口,用于為檢測所述待測器件中的所述關斷周期而指定所述電壓數據樣本的閾值電壓電平。
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