[發明專利]檢測物的檢測裝置、電極、基板、檢查芯片及檢測方法

有效

• 申請號: 201110333157.2
• 申請日: 2011-10-28
• 公開（公告）號: CN102539741A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 堀信康;桐村浩哉
• 申請（專利權）人: 希森美康株式會社
• 主分類號: G01N33/543
• 分類號: G01N33/543;G01N27/327
• 代理公司: 北京市安倫律師事務所 11339
• 代理人: 劉良勇

1.一種檢測裝置，用光電化學法檢測因光激勵而產生電子的檢測物，該裝置包括：

工作電極主體，能夠容納所述檢測物產生的電子，并具有透光性；

反電極；

光源，向所述工作電極主體上的檢測物照射激勵光；及

反射部件，用于將所述光源照射出的、并且通過了所述工作電極主體的激勵光反射到所述工作電極主體上的檢測物上。

2.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于：

所述反射部件選自由白金、鋁、金、銀和銅所組成的群中的至少一種構成。

3.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于：

所述工作電極主體由導電層和電子容納層構成。

4.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于：

所述光源配置在用于容納所述工作電極主體上的檢測物的電子的電子容納面一側，

所述反射部件設置在與所述電子容納面相反的一面。

5.根據權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于：

所述反射部件設置在遠離所述工作電極主體的位置。

6.根據權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于：

所述反射部件通過具有透光性的絕緣層與所述工作電極主體成為一體。

7.根據權利要求6所述的檢測裝置，其特征在于：

與所述工作電極主體上的所述電子容納面相反一側的表面有具有透光性的絕緣層。

8.根據權利要求6所述的檢測裝置，其特征在于：

所述絕緣層是用于保持工作電極主體的形態的基板主體。

9.根據權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于：

所述反射部件設置在用于保持工作電極主體的形態的基板主體上。

10.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于：

所述光源配置在用于容納所述工作電極主體上的檢測物的電子的電子容納面的相反一側，

所述反射部件設在所述電子容納面一側中遠離所述工作電極主體的位置。

11.根據權利要求10所述的檢測裝置，其特征在于：

在與所述工作電極主體上的所述電子容納面相反一側的表面上設有具有透光性的絕緣層。

12.一種電極基板，用光電化學法檢測因光激勵而產生電子的檢測物，該基板包括：

基板主體；

工作電極主體，位于所述基板主體上、能夠容納所述檢測物產生的電子，且具有透光性；及

反射部件，位于所述基板主體上、能夠將光源照射出的、透過了所述工作電極主體的激勵光反射到所述工作電極主體上的檢測物上。

13.根據權利要求12所述的電極基板，其特征在于：

所述基板主體上有反電極。

14.一種工作電極，用光電化學法檢測因光激勵而產生電子的檢測物的，該電極包括：

工作電極主體，位于所述基板主體上、能夠容納所述檢測物產生的電子，且具有透光性；及

反射部件，位于所述基板主體上，將光源照射出的、透過了所述工作電極主體的激勵光反射到所述工作電極主體上的檢測物上。

15.一種檢查芯片，用光電化學法檢測因光激勵而產生電子的檢測物，該芯片包括：

電極基板，由基板主體、工作電極主體、以及反射部件構成，其中所述工作電極主體位于所述基板主體上，能夠容納所述檢測物產生的電子，且具有透光性；所述反射部件位于所述基板主體上，將光源照射出的、且透過了所述工作電極主體的激勵光反射到所述工作電極主體上的檢測物上；及

反電極。

16.一種檢測物的檢測方法，用具有透光性的工作電極主體和反電極，對因光激勵而產生電子的檢測物進行光電化學檢測，該方法包括：

使所述工作電極主體上存在有檢測物；

向所述工作電極主體上的檢測物照射激勵光；

將透過了所述工作電極主體的激勵光反射到所述工作電極主體上的檢測物上；及

測定所述工作電極主體與反電極之間的電流。

17.一種受測物的檢測方法，用具有透光性的工作電極主體和反電極對受測物進行光電化學檢測，該方法包括：

使受測物與標記結合物接觸，形成受測物與標記結合物的復合物，其中所述標記結合物是用標記物標記用于捕捉此受測物的結合物而形成的；

使所述工作電極主體上至少存在有標記物；

向所述工作電極主體上的標記物照射激勵光；

將透過了所述工作電極主體的激勵光反射到所述工作電極主體上的標記物上；及

測定所述工作電極主體與反電極之間的電流。