[發(fā)明專利]電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證的方法及其裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110331154.5 | 申請日: | 2011-10-27 |
| 公開(公告)號: | CN102494708A | 公開(公告)日: | 2012-06-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鐘志剛;朱珈;劉宗航;王秀芳;竹利平;王珊珊;陳鈞;陳偉升;劉國榮 | 申請(專利權(quán))人: | 廣州威凱檢測技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01D18/00 | 分類號: | G01D18/00 |
| 代理公司: | 廣州知友專利商標(biāo)代理有限公司 44104 | 代理人: | 宣國華 |
| 地址: | 510663 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電工 電子產(chǎn)品 低溫 試驗(yàn) 能力 驗(yàn)證 方法 及其 裝置 | ||
1.一種電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證的方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)?預(yù)設(shè)溫度檢測裝置的動作溫度點(diǎn),要求溫度檢測裝置的感溫介質(zhì)溫度變化速率≤1℃/min,將溫度檢測裝置的溫度感應(yīng)裝置放入待驗(yàn)證裝置內(nèi)部,開啟待驗(yàn)證裝置操作降溫;
2)當(dāng)溫度檢測裝置檢測到待驗(yàn)證裝置的內(nèi)部溫度下降到上述預(yù)設(shè)的動作溫度點(diǎn)時,記錄待驗(yàn)證裝置此時的內(nèi)部溫度值,即記錄待驗(yàn)證裝置溫度值;
3)計算上述待驗(yàn)證裝置溫度的Z值,????????????????????????????????????????????????,當(dāng)時,判斷待驗(yàn)證裝置低溫試驗(yàn)?zāi)芰细瘛?/p>
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證的方法,其特征在于:步驟3)中所述的中位值、標(biāo)準(zhǔn)IQR值通過如下方式獲得:選擇18個以上的待驗(yàn)證裝置分別進(jìn)行步驟1)、2)相應(yīng)得到18個以上的待驗(yàn)證裝置溫度值,計算上述18個以上的待驗(yàn)證裝置溫度值的中位值和標(biāo)準(zhǔn)IQR值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證的方法,其特征在于:所述的溫度檢測裝置為具有固定的動作溫度點(diǎn)的定溫復(fù)位壓力式溫控器。
4.一種實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1或2所述的方法的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置,其特征在于:所述的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置包括具有固定的動作溫度點(diǎn)的壓力式溫控器,所述的溫控器上連接有溫度感應(yīng)裝置,所述的溫控器的負(fù)電壓輸入端依次通過電阻、氖燈連接外部負(fù)電壓輸入端,所述的溫控器的正電壓輸入端連接外部正電壓輸入端。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置,其特征在于:所述的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置還包括盒體,所述的溫控器密封在盒體內(nèi),所述的溫度感應(yīng)裝置穿出盒體與外界待驗(yàn)證裝置相連,所述的氖燈、外部正、負(fù)電壓輸入端設(shè)置在盒體上。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置,其特征在于:所述的溫控器為具有固定的動作溫度點(diǎn)的定溫復(fù)位壓力式溫控器,且所述溫控器的感溫介質(zhì)溫度變化速率≤1℃/min。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置,其特征在于:所述的溫度感應(yīng)裝置為毛細(xì)管感溫探頭。
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