[發(fā)明專利]測量煙顆粒的粒徑的方法及裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110330275.8 | 申請日： | 2011-10-26 |
| 公開（公告）號： | CN102507399A | 公開（公告）日： | 2012-06-20 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 張永明;李耀東;方俊;王進(jìn)軍 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) |
| 主分類號： | G01N15/02 | 分類號： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京凱特來知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11260 | 代理人： | 鄭立明;黃曉軍 |
| 地址： | 230026 安*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測量 顆粒 粒徑 方法 裝置 | ||
1.一種測量煙顆粒的粒徑的方法，其特征在于，包括：
根據(jù)煙顆粒的散射光的直流分量和諧波分量建立煙顆粒的散射光的散射矩陣；
根據(jù)所述散射矩陣建立煙顆粒的粒徑參數(shù)的目標(biāo)函數(shù)，利用所述散射矩陣和目標(biāo)函數(shù)通過反演算法，獲取所述目標(biāo)函數(shù)的最優(yōu)值，根據(jù)所述最優(yōu)值得到所述煙顆粒的粒徑分布。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量煙顆粒的粒徑的方法，其特征在于，所述的根據(jù)煙顆粒的散射光的直流分量和諧波分量建立煙顆粒的散射光的散射矩陣，包括：
獲取激光通過煙顆粒所在的區(qū)域產(chǎn)生的散射光，對所述散射光進(jìn)行低通濾波得到直流分量，通過鎖相放大器檢測得到所述散射光的一階和二階諧波分量；
根據(jù)所述直流分量、一階和二階諧波分量的組成的線性方程組建立煙顆粒的散射光的米勒Mueller散射矩陣F；
所述θ是所述激光發(fā)射到煙顆粒所在的區(qū)域的入射角度，所述F11(θ)是入射光強(qiáng)度與散射光強(qiáng)度之間的傳輸特性，所述F12(θ)是與散射平面平行的線偏振光，以及與散射平面垂直的線偏振光的消偏振率，所述F22(θ)是與散射平面垂直的入射線偏振光到與散射平面垂直的散射線偏振光的傳輸特性，所述F33(θ)是與散射平面呈±45°夾角的線偏振入射光到與散射平面呈±45°夾角的線偏振散射光的傳輸特性，所述F34(θ)是圓偏振入射光到與散射平面呈±45°角的線偏振散射光的傳輸特性，所述F44(θ)是圓偏振入射光到圓偏振散射光的傳輸特性；
將所述米勒Mueller散射矩陣F中的除了F11(θ)以外的其他矩陣元素都除以F11(θ)，并且F11(θ)其他角度的值除以F11(θ)在0度角的值，得到歸一化的Mueller散射矩陣F。
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