[發明專利]均勻雙各向同性媒質物體的雷達散射截面獲取方法

有效

• 申請號: 201110326369.8
• 申請日: 2011-10-24
• 公開（公告）號: CN102508220A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發明（設計）人: 卞紅河;鄒志粘;袁志巍;章秀銀
• 申請（專利權）人: 西瑞克斯（北京）通信設備有限公司
• 主分類號: G01S7/41
• 分類號: G01S7/41
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 宋松

1.均勻雙各向同性媒質物體的雷達散射截面獲取方法，其特征在于包括如下步驟：

步驟(1)均勻雙各向同性媒質物體在均勻背景介質中，背景介質的介電常數為ε₁，磁導率為μ₁，均勻雙各向同性媒質物體的介電常數為ε₂，磁導率為μ₂；電磁波從背景介質中入射，被均勻雙各向同性媒質物體散射；根據均勻雙各向同性媒質物體的幾何尺寸及其空間位置信息，建立均勻雙各向同性媒質物體的幾何模型，應用矩量法的三角形表面剖分方法，將其表面S剖分為無縫連接的多個三角形面元；

步驟(2)均勻雙各向同性媒質物體表面S的面電源矢量函數和面磁源矢量函數的空間域基函數采用RWG基函數：

e→(r→,t)=Σn=0Nen(t)f→n(r→)]]>

h→(r→,t)=Σn=0Nhn(t)f→n(r→)]]>

e_n(t)和h_n(t)是時間系數，N是均勻雙各向同性媒質物體表面三角形剖分之后的公共邊數，是RWG基函數；時間域的基函數采用φ_j(st)＝e^-st/2L_j(st)：

en(t)=Σj=0Men,jφj(st)]]>

hn(t)=Σj=0Mhn,jφj(st)]]>

L_j(st)是帶有幅度因子s的j階拉蓋爾函數，M是時間基函數的最大階數，e_n，j是電源矢量系數，h_n，j是磁源矢量系數；

步驟(3)在均勻雙各向同性媒質物體內部電磁場分解為左旋極化波場與右旋極化波場：

E→d=E→++E→-]]>

H→d=H→++H→-]]>

其中，和分別是均勻雙各向同性媒質物體內部電磁場的電場分量和磁場分量，和分別是右旋極化波場的電場分量和磁場分量；和分別是左旋極化波場的電場分量和磁場分量；根據電磁場邊界條件，在均勻雙各向同性媒質物體表面上的切向電磁場連續，得到邊界積分方程

E→i(r→,t)|tan=-E→s(e→,h→)|tan+Σ±E→±(e→±,h→±)|tan]]>

H→i(r→,t)|tan=-H→s(e→,h→)|tan+Σ±H→±(e→±,h→±)|tan]]>

其中，和分別是入射電磁波的電場分量和磁場分量；和分別是散射場的電場分量和磁場分量；|_tan表示場量取沿散射體表面的切向方向的分量。對邊界積分方程應用伽略金方法，得到2N*2N維的矩陣方程，求解矩陣方程得到e_n，j和h_n，j；進一步得到面電源矢量函數和面磁源矢量函數

步驟(4)根據等效原理，由面電源矢量函數和面磁源矢量函數得到觀察點的電磁散射，再應用傅里葉變換得到雷達散射截面。