[發明專利]一種機械結構變形量的動態測量方法

有效

• 申請號: 201110325895.2
• 申請日: 2011-10-24
• 公開（公告）號: CN102506808A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發明（設計）人: 王東偉;劉勇;陳曉暉;賀燕;殷晴
• 申請（專利權）人: 北京航天計量測試技術研究所;中國運載火箭技術研究院
• 主分類號: G01B21/32
• 分類號: G01B21/32
• 代理公司: 核工業專利中心 11007
• 代理人: 高尚梅

1.一種機械結構變形量的動態測量方法，其特征在于，該方法包含如下步驟：

1)選用微晶玻璃球作為被測目標，球心作為特征點；

2)將上述微晶玻璃球固定在被測工件上；

3)將微晶玻璃球作為基準坐標點，測量微晶玻璃球的球心坐標值，每個球心的坐標記為x_i，y_i，z_i；i＝1，2，3，...N，N為特征點個數；

4)將平面反射鏡固定，平面反射鏡的位置滿足如下條件：確定一個被測工件上的微晶玻璃球，使其在平面反射鏡的像能夠被測量到；

5)通過平面反射鏡測量工件背面的特征點；

6)改變溫度條件，記錄N個特征點的位置變化；并記錄每一個時間點下，特征點位置坐標為X_ij，Y_ij，Z_ij，j＝1，2，3..M，M為時間點個數；

7)通過下式得出溫度改變后每個特征點的位置偏差

Δ=(Xij-xi)2+(Yij-yi)2+(Zij-zi)2.]]>

2.如權利要求1所述的一種機械結構變形量的動態測量方法，其特征在于，所述的步驟2)按如下步驟進行；

a)制作連接半球形工裝，半徑為R，工裝中心加工沉孔；

b)在被測工件表面需要監測結構變化的位置加工通孔；

c)使用殷鋼制造的螺栓螺母將半球形工裝固定在被測工件上，并且在螺紋上涂耐高溫硅膠；

d)在工裝半球槽內涂耐高溫硅膠，將微晶玻璃球固定在半球槽內；

e)固定完畢放置24小時；

f)對每個微晶玻璃球進行編號。