[發(fā)明專利]測試負(fù)載卡

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110325632.1
• 申請日: 2011-10-24
• 公開（公告）號: CN103064773A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 魏釗科;田波;吳澤云
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種負(fù)載卡，特別涉及一種用于測試的負(fù)載卡。

背景技術(shù)

眾所周知，電腦等電子裝置在出廠時(shí)都要進(jìn)行測試，其中的重要測試就是主板的測試，主板包括多種類型的PCI（Peripheral?Component?Interconnect，外圍元件連接）插槽，例如PCI，PCIE（PCI?Express，高速PCI），PCIX（并連的PCI總線的更新版本）等，在對該些插槽進(jìn)行測試時(shí)，由于不同的插槽形狀不一樣，且工作電壓以及負(fù)載的電阻要求不一樣，在對相應(yīng)插槽進(jìn)行測試時(shí)，通常需要具有相應(yīng)阻值的負(fù)載電阻以及工作在相應(yīng)電壓的負(fù)載卡進(jìn)行測試。在負(fù)載卡較多時(shí)，對相應(yīng)的插槽進(jìn)行測試，往往要花費(fèi)不少時(shí)間尋找相應(yīng)的負(fù)載卡，且負(fù)載卡較多時(shí)，容易丟失，對測試造成了諸多不便。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種測試負(fù)載卡，可適用于多種不同類型的PCI插槽。

一種測試負(fù)載卡，用于測試主板上的多種類型的PCI插槽，每一PCI插槽具有至少兩個(gè)工作電壓，該測試負(fù)載卡包括若干金手指片、若干電壓端以及若干負(fù)載及電壓選擇電路。該若干金手指片用于分別與不同的PCI插槽匹配連接。每一電壓端與至少一個(gè)金手指片的電源引腳連接，當(dāng)測試負(fù)載卡通過相應(yīng)的金手指片與對應(yīng)的PCI插槽連接時(shí)，相應(yīng)的電壓端從該P(yáng)CI插槽獲得該P(yáng)CI插槽的當(dāng)前工作電壓。每一負(fù)載及電壓選擇電路對應(yīng)包括了對相應(yīng)的工作電壓下一PCI插槽進(jìn)行測試所需的負(fù)載電阻；每一負(fù)載及電壓選擇電路與一電壓端連接，用于響應(yīng)用戶的操作處于工作或不工作狀態(tài)，從而選擇測試負(fù)載卡的輸入電壓以及負(fù)載電阻，使得該測試負(fù)載卡的負(fù)載電阻以及輸入電壓分別為對一工作電壓下的某一PCI插槽進(jìn)行測試所需的負(fù)載電阻以及該工作電壓。

本發(fā)明的測試負(fù)載卡，可根據(jù)待測PCI插槽的類型以及工作電壓選擇對應(yīng)的負(fù)載電阻，從而滿足多個(gè)不同類型的PCI插槽的測試需求。

附圖說明

圖1為本發(fā)明第一實(shí)施方式中測試負(fù)載卡的外觀示意圖。

圖2為本發(fā)明第一實(shí)施方式中測試負(fù)載卡的功能模塊圖。

圖3為本發(fā)明第一實(shí)施方式中測試負(fù)載卡中的一負(fù)載及電壓選擇電路的電路圖。

主要元件符號說明

測試負(fù)載卡1金手指片F1~F4電壓端Vcc1~Vcc4負(fù)載及電壓選擇電路10切換開關(guān)K路徑開關(guān)M1、M2第一負(fù)載電阻R1第二負(fù)載電阻R2連接端101～106控制端201，301第一導(dǎo)通端202，302第二導(dǎo)通端203，303溫度感應(yīng)器TS