[發明專利]質譜分析儀用膜進樣樣品富集裝置

無效

• 申請號: 201110324991.5
• 申請日: 2011-10-24
• 公開（公告）號: CN102842480A
• 公開（公告）日: 2012-12-26
• 發明（設計）人: 季歷程
• 申請（專利權）人: 南通天華和睿科技創業有限公司
• 主分類號: H01J49/04
• 分類號: H01J49/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種質譜分析儀用膜進樣樣品富集裝置，所述質譜分析儀用膜進樣樣品富集裝置具體構成如下:膜（1）、真空差分腔體（2）、循環泵（3）、微調真空控制閥（4）、細管（5）、毛細管（6）、樣品進口管（7）、進樣閥門（9）、樣品進入腔（10）、端蓋（12）、機械泵（15）、差分抽氣口（16）；其中：樣品進入腔（10）通過4到8個螺栓固定安裝在真空差分腔體（2）的一端，端蓋（12）通過4到8個螺栓固定安裝在真空差分腔體（2）的另一端，膜（1）固定安裝在真空差分腔體（2）的靠近樣品氣體進入的一側，進樣閥門（9）安裝在樣品進口管（7）的中間，樣品進口管（7）固定安裝在樣品進入腔（10）的一端，循環泵（3）安裝在樣品進入腔（10）上，并與樣品進入腔（10）連通，微調真空控制閥（4）與真空差分腔體（2）通過差分抽氣口（16）連接，機械泵（15）與微調真空控制閥（4）連接，細管（5）固定在真空差分腔體（2）的內部與膜（1）連接，毛細管（6）穿過端蓋（12）并與端蓋（12）緊密固定連接；其特征在于：

所述的質譜分析儀用膜進樣樣品富集裝置還包括有顆粒裝置（8），支撐絲網（11），擋圈（13），三個O形圈（14），恒溫的加熱裝置（17）；其中：去顆粒裝置（8）布置在樣品進口管（7）的內部進樣閥門（9）前端，支撐絲網（11）布置在真空差分腔體（2）上位于膜（1）的后方，三個O形圈（14）中的一個安裝在樣品進入腔（10）和真空差分腔體（2）之間，另兩個O形圈（14）分別布置在真空差分腔體（2）與擋圈（13）之間、擋圈（13）與端蓋（12）之間，所述恒溫的加熱裝置（17）安裝在該膜進樣裝置的外部；所述的毛細管（6）內徑為0.5mm到0.8mm；

所述的膜(1)為聚二甲基硅氧烷超薄膜，其厚度為35微米到70微米，面積至少為20平方毫米。

2.按照權利要求1所述質譜分析儀用膜進樣樣品富集裝置，其特征在于：所述質譜分析儀用膜進樣樣品富集裝置還滿足下述要求：所述真空差分腔體（2）為圓柱形中空結構件；微調真空控制閥（4）為針閥；所述的進樣閥門（9）為電磁控制球閥；所述的細管（5）內徑為0.6mm到1.0mm。

3.按照權利要求2所述的質譜分析儀用膜進樣樣品富集裝置，其特征在于：所述的支撐絲網（11）和去顆粒裝置（8）均為金屬網狀結構件。