[發明專利]一種材料氫脆的顯微硬度表征方法

無效

• 申請號: 201110323701.5
• 申請日: 2011-10-21
• 公開（公告）號: CN102507353A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發明（設計）人: 高志明;林峰;劉永長;修妍;韓夏冰
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: G01N3/40
• 分類號: G01N3/40
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 王秀奎

1.一種材料氫脆的顯微硬度表征方法，其特征在于，該方法包括材料預處理和顯微硬度法，采用顯微硬度法分別測量未進行陰極保護的試樣和在不同陰極保護電位下持續保護24小時后的試樣的顯微硬度，然后經過對比發現，試樣在過保護條件下發生氫脆后表面顯微硬度有明顯變化。

2.根據權利要求1所述的一種材料氫脆的顯微硬度表征方法，其特征在于，首先對試樣進行預處理，然后分別對試樣進行在不用陰極保護電位下進行連續24小時的陰極保護，用顯微硬度法測量未進行陰極保護和陰極保護后的試樣的硬度，發現未達到析氫電位的試樣顯微硬度值同空白試樣的顯微硬度值基本相同，達到析氫電位的試樣顯微硬度值上升，如果保護電位過負使試樣發生嚴重析氫而產生嚴重氫脆時，試樣顯微硬度值下降。