[發明專利]一種介質損耗電流測試儀的工作方法有效
| 申請號: | 201110322628.X | 申請日: | 2011-10-21 |
| 公開(公告)號: | CN102435860A | 公開(公告)日: | 2012-05-02 |
| 發明(設計)人: | 傅中君;侯雪亞 | 申請(專利權)人: | 江蘇技術師范學院 |
| 主分類號: | G01R27/26 | 分類號: | G01R27/26 |
| 代理公司: | 常州市江海陽光知識產權代理有限公司 32214 | 代理人: | 湯志和 |
| 地址: | 213000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 介質 損耗 電流 測試儀 工作 方法 | ||
1.一種介質損耗電流測試儀的工作方法,其特征在于包括以下步驟:
(1)、介質損耗電流測試儀的CPU同時采樣被試件上施加的電壓信號V和電流信號I,并分別對電壓信號V和電流信號I等間隔采樣W+2個采樣點數據:{f(i),i=0,1,…,w+1};
(2)、所述CPU從所述電壓信號V的采樣點i=0開始應用準同步DFT公式:
分析W+1個數據獲得基波信息和;
所述CPU從所述電壓信號V的采樣點i=1開始應用準同步DFT公式:
分析W+1個數據獲得基波信息;
應用公式:,計算所述電壓信號V的頻率漂移;
應用公式:,得出所述電壓信號V的基波的實部和虛部,然后計算出所述電壓信號V的基波初相角;
(3)、所述CPU從所述電流信號I的采樣點i=0開始應用準同步DFT公式:
分析W+1個數據獲得基波信息和;
所述CPU從電流信號I的采樣點i=1應用準同步DFT公式:
分析W+1個數據獲得基波信息;
應用公式:,計算所述電流信號I的頻率漂移;
應用公式:
,分別得出所述電流信號I的基波的實部和虛部,然后計算出所述電流信號I的基波初相角;
(4)、所述CPU根據公式計算介質損耗角正切,并輸出顯示。
2.根據權利要求1所述的介質損耗電流測試儀的工作方法,其特征在于:所述的等間隔采樣是根據進行諧波分析的理想信號的周期T和頻率f,在一個周期內采樣N點,即采樣頻率為fs=Nf,且N≥64。
3.根據權利要求1或2所述的介質損耗電流測試儀的工作方法,其特征在于:所述的采樣W+2個采樣點數據是根據所選擇的積分方法而作相應選擇,若采用復化梯形積分方法,則W=nN;若采用復化矩形積分方法,則W=n(N-1);若采用復化辛普森積分方法,則W=n(N-1)/2;然后根據采樣頻率fs=Nf,獲得采樣點數據序列{f(i),i=0,1,…,w+1},n=≥3。
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