[發(fā)明專利]永磁體表面磁場強(qiáng)度的檢測裝置及檢測方法

無效

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• 申請日: 2011-10-19
• 公開（公告）號: CN102435964A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 程星華;郭炳麟
• 申請（專利權(quán)）人: 安泰科技股份有限公司
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12
• 代理公司: 北京銘碩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286
• 代理人: 郭鴻禧;張軍

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種磁場強(qiáng)度的測量方法，尤其涉及一種用于檢測永磁體磁體表面磁場強(qiáng)度的檢測方法。

背景技術(shù)

永磁體由于其具有高剩磁、高矯頑力、高磁能積等優(yōu)異特性，且容易加工成各種形狀規(guī)格的磁體，被廣泛用于電機(jī)、儀表、電子元器件等永久磁場的裝置和設(shè)備中。永磁體的工作方式主要是利用永磁體其自身產(chǎn)生的磁場強(qiáng)度，如何測量永磁體的磁場強(qiáng)度是永磁體裝配前檢驗(yàn)判定的關(guān)鍵，需要一種快速、準(zhǔn)確、接近使用狀態(tài)的磁場強(qiáng)度測量方法。

單個(gè)永磁體，其表面磁場強(qiáng)度隨著空間不同位置，而呈現(xiàn)不同的強(qiáng)度值，一般表現(xiàn)為永磁體的極性表面的中心位置磁場強(qiáng)度低于極性表面的四周位置的磁場強(qiáng)度，另外，離開永磁體極性表面距離越遠(yuǎn)，表面磁場強(qiáng)度越小。

目前永磁體磁場強(qiáng)度檢驗(yàn)有兩種方法，一種是采用磁通計(jì)加亥姆霍茲線圈測量永磁體的整體磁通，另一種是利用高斯計(jì)加霍爾探頭測量永磁體某點(diǎn)的表面磁場強(qiáng)度。這兩種方法都是采用開路測量方法。

目前這兩種方法的測量，磁通計(jì)加亥姆霍茲線圈測量出來的是整個(gè)永磁體的磁通，但無法反映永磁體工作時(shí)候的表面磁場強(qiáng)度分布情況，對于永磁體的使用意義不大。而另一種高斯計(jì)加霍爾探頭測量方法，該方法只能檢測出永磁體某一個(gè)空間點(diǎn)的磁場強(qiáng)度，由于受到磁體測量位置、霍爾探頭元件的厚度、使用人員水平的影響，測量數(shù)據(jù)差異很大，同時(shí)檢測效率很慢，無法進(jìn)行快速準(zhǔn)確的檢測。以上兩種方法的測量都是對單個(gè)永磁體的測量。

具體說來，現(xiàn)有技術(shù)的磁場強(qiáng)度測量方法存在如下不足：常規(guī)方法測量的是單體永磁體的表面磁場強(qiáng)度，而實(shí)際應(yīng)用時(shí)候，永磁體要和其他器件相接觸，形成一個(gè)工作磁路，該工作磁路的磁場強(qiáng)度與單個(gè)永磁體的磁場強(qiáng)度是不一樣的，也就是說測量單個(gè)永磁體的表面磁場強(qiáng)度無法反應(yīng)永磁體工作時(shí)候的表面磁場強(qiáng)度。現(xiàn)有技術(shù)的高斯計(jì)加霍爾探頭測量方法只能測量空間某一點(diǎn)位置的表面磁場強(qiáng)度，需要特別規(guī)定某一個(gè)位置，然后才有測量意義。現(xiàn)有技術(shù)中的高斯計(jì)加霍爾探頭測量方法受限制于hall元件厚度和測量人員水平。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決現(xiàn)有技術(shù)中高斯計(jì)加霍爾探頭等測量方法存在的技術(shù)問題，本發(fā)明利用C型軟磁材料零件和永磁體共同形成一個(gè)模擬工作態(tài)，在永磁體和軟磁材料中間形成一個(gè)均勻磁場強(qiáng)度的氣隙場，從而使用高斯計(jì)加霍爾探頭檢測該均勻氣隙場的磁場強(qiáng)度，實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的永磁體表面強(qiáng)度的檢測。

本發(fā)明主要利用C型軟磁材料零件，在永磁體這邊形成一個(gè)工作磁路，此時(shí)永磁體和C型軟磁材料間形成一個(gè)均勻的磁場，模擬一種永磁體的工作狀態(tài)，使得測量的數(shù)值更接近于永磁體的工作狀態(tài)。測量永磁體的表面磁感應(yīng)強(qiáng)度，不再是測量某一個(gè)空間點(diǎn)位置，而是測量永磁體表面處形成的均勻的磁場，測量時(shí)只需要將霍爾探頭放置在該磁場中，就可以實(shí)現(xiàn)永磁體的表面磁場強(qiáng)度測量，方便快捷并且準(zhǔn)確。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的方法的實(shí)現(xiàn)，可以忽略空間位置，因?yàn)闇y量的是永磁體表面所產(chǎn)生的均勻磁場強(qiáng)度，霍爾探頭在這個(gè)區(qū)域里面，不需要特別固定某一個(gè)位置。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的方法利用永磁體和C型軟磁材料零件開口處的氣隙形成一個(gè)均勻磁場，霍爾探頭固定在該氣隙中間，測量人員只要負(fù)責(zé)將磁體放入氣隙中，從而人員操作差異性對測量結(jié)果的影響基本可以忽略。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，提供了一種永磁體的磁場強(qiáng)度的檢測方法，所述方法包括：將永磁體放置在C型軟磁材料零件的開口處，使永磁體與C型軟磁材料零件之間形成氣隙，并在氣隙中形成均勻磁場，利用霍爾探頭測量該磁場強(qiáng)度。

利用非導(dǎo)磁傳送軌道將永磁體傳送到C型軟磁材料零件的開口處。

在非導(dǎo)磁傳送軌道上設(shè)置有刻度，用于幫助永磁體精確地送入C型軟磁材料零件的開口中的規(guī)定位置。

霍爾探頭采集到的磁感應(yīng)強(qiáng)度通過外接高斯計(jì)進(jìn)行顯示。

根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，提供了一種永磁體的磁場強(qiáng)度的檢測裝置，所述檢測裝置包括C型軟磁材料零件、傳送軌道和霍爾探頭，其中，永磁體通過傳送軌道傳送到C型軟磁材料零件的開口處，霍爾探頭設(shè)置在被測永磁體與C型軟磁材料零件所形成的氣隙中。

其中，C型軟磁材料零件的開口具有兩個(gè)平行的對立端面。

其中，所述兩個(gè)平行的對立端面的面積相同。

其中，C型軟磁材料零件由高導(dǎo)磁的純鐵或者硅鋼軟磁材料制成。

其中，傳送軌道由不導(dǎo)磁的材料制備。

其中，傳送軌道上設(shè)置有刻度，用于對永磁體進(jìn)行定位。

其中，傳送軌道中設(shè)置有槽，永磁體能在凹槽中滑動。

其中，凹槽中設(shè)置推板或者傳送帶，用于傳送永磁體。