[發(fā)明專利]一種基于理想化細(xì)胞半徑定量測(cè)量細(xì)胞鋪展速率的方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110318629.7 | 申請(qǐng)日: | 2011-10-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102507580A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-06-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳勇;邵文祥;黃潔;曾芳發(fā) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南昌大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/84 | 分類號(hào): | G01N21/84 |
| 代理公司: | 南昌新天下專利商標(biāo)代理有限公司 36115 | 代理人: | 施秀瑾 |
| 地址: | 330031 江西省*** | 國(guó)省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 理想化 細(xì)胞 半徑 定量 測(cè)量 鋪展 速率 方法 | ||
1.一種基于理想化細(xì)胞半徑定量測(cè)量細(xì)胞鋪展速率的方法,其特征是將處于懸浮狀態(tài)的貼壁細(xì)胞種植在培養(yǎng)孔或板上,在細(xì)胞貼壁和鋪展過(guò)程中,使用成像設(shè)備,捕獲大量細(xì)胞在不同時(shí)間點(diǎn)的形貌圖,測(cè)量出每個(gè)細(xì)胞的貼壁面積,并按下式計(jì)算出細(xì)胞鋪展速率:
其中,Rs表示細(xì)胞的鋪展速率;Tn+1表示細(xì)胞貼壁后鋪展的n+1時(shí)刻,Tn表示細(xì)胞貼壁后鋪展的n時(shí)刻;An+1表示細(xì)胞鋪展過(guò)程中的n+1時(shí)刻單個(gè)細(xì)胞的貼壁面積或所有細(xì)胞的貼壁面積的平均值,An表示細(xì)胞鋪展過(guò)程中的n時(shí)刻單個(gè)細(xì)胞的貼壁面積或所有細(xì)胞的貼壁面積的平均值。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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