[發(fā)明專利]接觸式圖像傳感器、多角度光學(xué)特征檢測方法及裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110318534.5 | 申請日： | 2011-10-19 |
| 公開（公告）號： | CN102339494A | 公開（公告）日： | 2012-02-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 陳新;萬成凱;唐輝 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京新岸線數(shù)字圖像技術(shù)有限公司 |
| 主分類號： | G07D7/20 | 分類號： | G07D7/20 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀區(qū)中關(guān)村*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 接觸 圖像傳感器 角度 光學(xué) 特征 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種多角度光學(xué)特征的檢測方法，其特征在于，該方法包括：
以第一入射角θ1和第二入射角θ2交替照射被檢測物上的預(yù)定區(qū)域；所述第一入射角θ1和第二入射角θ2不相等；
以觀測角φ接收所述預(yù)定區(qū)域的反射光，得到以第一入射角θ1照射所述預(yù)定區(qū)域時(shí)所述預(yù)定區(qū)域的第一圖像、及以第二入射角θ2照射所述預(yù)定區(qū)域時(shí)所述預(yù)定區(qū)域的第二圖像；
比較所述第一圖像和所述第二圖像，以檢測所述預(yù)定區(qū)域是否具有多角度光學(xué)特征。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，每次以觀測角φ接收所述預(yù)定區(qū)域的反射光時(shí)，采集所述預(yù)定區(qū)域的一行圖像數(shù)據(jù)；
利用以第一入射角θ1照射所述預(yù)定區(qū)域時(shí)采集的所有圖像數(shù)據(jù)合成所述第一圖像，利用以第二入射角θ2照射所述預(yù)定區(qū)域時(shí)采集的所有圖像數(shù)據(jù)合成所述第二圖像。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述觀測角φ與所述第一入射角θ1和所述第二入射角θ2均不相等。
4.如權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第一入射角θ1小于或等于30度，所述第二入射角θ2大于或等于60度。
5.如權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第一入射角θ1與所述第二入射角θ2的差值大于或等于10度。
6.如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第一入射角θ1與所述第二入射角θ2的差值大于或等于30度。
7.如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第一入射角θ1與所述第二入射角θ2的差值大于或等于50度。
8.一種多角度光學(xué)特征的檢測方法，其特征在于，該方法包括：
照射被檢測物上的預(yù)定區(qū)域；
分別以第一觀測角φ1和第二觀測角φ2接收所述預(yù)定區(qū)域的反射光、并得到所述預(yù)定區(qū)域的第一圖像和第二圖像；所述第一觀測角φ1和所述第二觀測角φ2不相等；
比較所述第一圖像和所述第二圖像，以檢測所述預(yù)定區(qū)域是否具有多角度光學(xué)特征。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，以第一觀測角φ1接收所述預(yù)定區(qū)域的反射光時(shí)，以第一入射角θ1照射所述預(yù)定區(qū)域；
以第二觀測角φ2接收所述預(yù)定區(qū)域的反射光時(shí)，以第二入射角θ2照射所述預(yù)定區(qū)域。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述第一入射角θ1與所述第一觀測角φ1不相等，所述第二入射角θ2與所述第二觀測角φ2不相等。
11.如權(quán)利要求8至10任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第一觀測角φ1小于或等于30度，所述第二觀測角φ2大于或等于60度。
12.如權(quán)利要求8至10任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第一觀測角φ1與第二觀測角φ2之間的差值大于或等于10度。
13.如權(quán)利要求8至12任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第一觀測角φ1與所述第二觀測角φ2的差值大于或等于30度。
14.如權(quán)利要求8至13任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第一觀測角φ1與所述第二觀測角φ2的差值大于或等于50度。
15.一種接觸式圖像傳感器CIS，其特征在于，所述CIS包括：透鏡、光電轉(zhuǎn)換芯片和交替點(diǎn)亮的第一光源和第二光源；
所述第一光源以第一入射角θ1照射被檢測物上的預(yù)定區(qū)域；
所述第二光源以第二入射角θ2照射被檢測物上的預(yù)定區(qū)域，所述第一入射角θ1和第二入射角θ2不相等；
所述透鏡，以觀測角φ接收所述預(yù)定區(qū)域的反射光、并導(dǎo)入所述光電轉(zhuǎn)換芯片；
所述光電轉(zhuǎn)換芯片，接收經(jīng)所述透鏡導(dǎo)入的反射光，得到所述第一光源點(diǎn)亮?xí)r所述預(yù)定區(qū)域的第一圖像、及所述第二光源點(diǎn)亮?xí)r所述預(yù)定區(qū)域的第二圖像。
16.如權(quán)利要求15所述的CIS，其特征在于，所述第一光源和第二光源位于所述透鏡的兩側(cè)，且所述觀測角φ為0度；
或者，所述第一光源和第二光源位于所述透鏡的同一側(cè)，且所述觀測角φ大于0度。
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