[發明專利]平板顯示屏性能檢測裝置

無效

• 申請號: 201110318263.3
• 申請日: 2011-10-19
• 公開（公告）號: CN102368827A
• 公開（公告）日: 2012-03-07
• 發明（設計）人: 郭業祥;范繼良;劉惠森
• 申請（專利權）人: 東莞宏威數碼機械有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 廣州三環專利代理有限公司 44202
• 代理人: 張艷美;郝傳鑫

技術領域

本發明涉及一種顯示屏檢測裝置，尤其涉及一種用于檢測平板顯示屏的檢測裝置。

背景技術

平板顯示器包括液晶顯示器、等離子體顯示器、OLED(有機發光二極管，Organic?Light-Emitting?Diode)顯示器、真空熒光顯示器、平板型陰極射線管顯示器和LED(發光二極管)顯示器等，上述平板顯示器具有有許多優點：薄型而輕巧，整機可做成便攜式；電壓低、無X射線輻射、沒有閃爍抖動、不產生靜電，因而不會有礙健康；功耗低，可用電池供電；壽命長。因此，平板顯示器的軍事、民用領域都有極其廣泛的用途，尤其是OLED顯示器，OLED顯示器是基于有機材料的一種電流型半導體發光器件，其典型結構是在玻璃基片上制作一層幾十納米厚的有機發光材料作發光層，發光層上方有一層低功函數的金屬電極，當電極上加有電壓時，發光層就產生光輻射。因此，OLED顯示器具有主動發光、功耗低、輕薄、無視角限制等優點，在數碼產品的顯示屏上得到了廣泛應用，并且具有較大的市場潛力。

OLED顯示器件的主要制備工藝包括：TFT基板制作、基片處理(具體包括：玻璃基片清洗、光刻、再清洗和基片前處理)、成膜(具體包括：真空蒸鍍有機層、真空蒸鍍背電極和真空蒸鍍保護層)、封裝、切割、老化測試和驅動芯片綁定，其中OLED封裝結束后，切割裂化成獨立的平板顯示屏，對平板顯示屏綁定驅動芯片之前，需使用顯示屏檢測裝置對平板顯示屏進行光電檢測，其具體步驟如下：將平板顯示屏所有的行電極共線短路連接，所有的列電極共線短路連接(R、G、B彼此絕緣)，而后以一組信號發生器點亮平板顯示屏，目測看看是否有顯示缺陷(點、線不亮；亮度明顯不均)，最后將目測有缺陷的平板顯示屏分選出來，不進行芯片綁定流程，另置別處進行缺陷檢測或修補。

然而，使用傳統的顯示屏檢測裝置檢測時，由于采用目測來檢測，僅能測試出平板顯示屏的色度和亮度是否均勻，并不能完成平板顯示屏的色溫、光譜測試以及顯示性能分析，不能完整、準確的檢測平板顯示器的顯示性能和電路性能，并對其顯示性能進行分析，使得傳統顯示屏檢測裝置不能廣泛應用于平板顯示生產線，使用局限性大；另一方面，工作時，隨著工作人員檢測時間長度的增加，檢測的失誤比例也會隨之增加，且由于人體的局限性，僅通過目測來檢測平板顯示屏的顯示性能和電路性能，出錯率高，檢測結果不穩定；再一方面，使用傳統的顯示屏檢測裝置檢測時，只能在檢測顯示屏的一部分引腳后移動或者翻轉顯示屏，再次對剩下的顯示屏引腳進行檢測，這使得不但在移動和翻轉顯示屏過程中會對器件造成損傷，而且檢測效率底下。

因此，急需一種可簡單快捷地檢測平板顯示器的顯示性能和電路性能，并對其顯示性能進行分析的顯示屏檢測裝置。

發明內容

本發明的目的是提供一種可簡單快捷地檢測平板顯示器的顯示性能和電路性能，并對其顯示性能進行分析的平板顯示屏性能檢測裝置。

為了實現上有目的，本發明公開了一種平板顯示屏性能檢測裝置，用于平板顯示屏的檢測，該平板顯示屏性能檢測裝置包括腔體、安裝在所述腔體內的固定板、縱向移動機構、橫向移動機構和亮度計，所述固定板上設有檢測口和突出的對位塊，所述對位塊分布于所述檢測口外圍用于固定所述平板顯示屏，所述檢測口內容置有檢測板，所述檢測板上具有與所述平板顯示屏之電路引腳對應的探針，所述縱向移動機構固定在所述腔體內，所述縱向移動機構與所述橫向移動機構相連并帶動所述橫向移動機構在所述檢測板上方沿縱向滑動，所述橫向移動機構與所述亮度計相連并帶動所述亮度計在檢測板上方沿橫向滑動。

所述縱向移動機構包括驅動機構、縱向軌道和縱向滑塊，所述縱向軌道固定在所述腔體內，所述縱向滑塊滑動卡合于所述縱向軌道上，所述驅動機構與所述縱向滑塊相連并帶動所述縱向滑塊在所述縱向軌道上滑動，所述橫向移動機構與所述縱向滑塊固定連接。

較佳地，所述驅動機構包括絲桿、絲桿螺母和旋鈕，所述絲桿螺母與所述縱向滑塊固定連接并呈嚙合地穿過所述絲桿，所述絲桿的前端與所述旋鈕固定連接。通過絲桿和絲桿螺母的配合使得亮度計在檢測板上方縱向移動，結構簡單穩定，使得檢測安全可靠。

較佳地，所述驅動機構包括絲桿、絲桿螺母和馬達，所述絲桿螺母與所述縱向滑塊固定連接并呈嚙合地穿過所述絲桿，所述絲桿的前端與所述馬達的輸出軸固定連接。通過馬達可準確地控制絲桿螺母在絲桿上的位移。