[發明專利]異種光纖熔接點纖芯損耗測量方法及其測量系統

無效

• 申請號: 201110317915.1
• 申請日: 2011-10-19
• 公開（公告）號: CN102507149A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發明（設計）人: 周勝
• 申請（專利權）人: 蘇州華必大激光有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種異種光纖熔接點纖芯損耗測量方法，其特征在于：它包括如下步驟：

(a)、選取兩根待測量的不同類型的光纖，在兩根光纖的一端分別連接光源，在兩根光纖的另一端分別連接光功率計，打開光源和光功率計，讀取光功率計讀數，得到上述兩根光纖在直連情況下的光功率數值為Ra、Rb；

(b)、保持光纖端頭與光源及光功率計的連接不變，將所述的兩根光纖從中間部位分別截斷，并相交叉熔接，形成兩根混合的異種光纖；

(c)、保持所述兩臺光源的光輸出功率不變，再次讀取光功率計讀數，得到交叉熔接后的光功率數值為Ras、Rbs；

(d)、根據上述測量數據，計算得到異種光纖熔接點纖芯的平均損耗為：[(Ra+Rb)-(Ras+Rbs)]/2。

2.根據權利要求1所述的異種光纖熔接點纖芯損耗測量方法，其特征在于：步驟(a)中，所述的兩根待測量的光纖在芯折射率、包層折射率、芯半徑、包層半徑、包層結構、摻雜條件、制造商、批次中的一種或多種方面不完全相同。

3.根據權利要求1或2所述的異種光纖熔接點纖芯損耗測量方法，其特征在于：所述光源的光信號由半導體激光器、光纖激光器、固體激光器或氣體激光器產生。

4.根據權利要求1或2所述的異種光纖熔接點纖芯損耗測量方法，其特征在于：步驟(a)中，當所述的光纖中有一根或兩根為雙包層光纖時，在該雙包層光纖的兩側靠近端點處還分別設置有用于增加測量精度的包層功率剝離器。

5.一種采用權利要求1所述的異種光纖熔接點纖芯損耗測量方法的測量系統，其特征在于：它包括

光源，其具有兩個，分別連接在兩根待測光纖的一端，所述的光源用于產生一定強度的光信號；

光功率計，其具有兩個，分別連接在兩根待測光纖的另一端，所述的光功率計用于測量光功率大小；

所述的光源與光纖、光功率計與光纖在熔接前和熔接后保持固定連接，通過分別讀取熔接前和熔接后光功率計的讀數，得到兩根待測光纖在直連情況下的光功率和交叉熔接形成異種光纖后的光功率值，以獲得光纖熔接點纖芯損耗的測量值。

6.根據權利要求5所述的異種光纖熔接點纖芯損耗測量系統，其特征在于：所述的光源類型為半導體激光器、光纖激光器、固體激光器或氣體激光器中的一種。

7.根據權利要求5所述的異種光纖熔接點纖芯損耗測量系統，其特征在于：所述的光功率計為光電探頭或熱光探頭類型的光功率計中的一種。

8.根據權利要求5所述的異種光纖熔接點纖芯損耗測量系統，其特征在于：當待測光纖中有一根或兩根為雙包層光纖時，在相應的雙包層光纖的兩側靠近端點處還分別設置有用于增加測量精度的包層功率剝離器。