[發明專利]觸控裝置結構及其制造方法

無效

• 申請號: 201110317563.X
• 申請日: 2011-10-13
• 公開（公告）號: CN103049120A
• 公開（公告）日: 2013-04-17
• 發明（設計）人: 蔡志雄;江耀誠;吳佳;黃萍萍
• 申請（專利權）人: 宸鴻科技(廈門)有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及觸控技術，特別是一種觸控裝置結構及其制造方法。

背景技術

電子裝置包括輸出與輸入裝置介面，以提供人與電子裝置的互動。在輸入裝置介面方面，因為電子材料的快速發展，觸控式輸入裝置介面已成為目前的主流。傳統的按鍵式輸入裝置，在未來都可能被觸控式輸入裝置所取代。用以達到觸控輸入功能的觸控裝置可以分為電阻式與電容式、電感式、聲波式、光學式等。然，前述不同的觸控裝置在使用時，均容易受到外界的信號干擾而產生誤操作。

請參照圖1，為傳統的觸控電路的平面透視圖。如圖1所示，傳統的觸控裝置1主要包括感測電極結構12與周邊連接線13。感測電極結構12所涵蓋的區域定義為觸控區域，用以感測使用者的觸控操作。周邊連接線13電性連接感測電極結構12，且周邊連接線13也電性連接至外部的檢測電路(未圖示)。

當人手(或其他導電體)碰到觸控裝置1時，觸控裝置的感測電極結構12由于人手的觸碰產生電容變化并經由周邊連接線13而將感測電極結構12所產生的電容變化傳遞至外部的檢測電路。檢測電路可以檢測到該電容變化而計算出人手所碰到的座標。然而，該電容變化也很容易受到外部的訊號干擾等因素，而導致所述電容變化發生不正常改變，從而造成觸控裝置的誤動作。特別是當人手因持握或誤碰觸控裝置1的周邊連接線13所在的區域時，周邊連接線13本身亦會產生干擾電容變化而干擾到周邊連接線13從感測電極結構12所接收的電容變化，該干擾電容變化將與感測電極結構12上產生的電容變化一并輸出至外部的檢測電路，因此，外部的檢測電路將不能準確地檢測出感測電極結構12上產生的電容變化以及產生電容變化的位置。如圖2所示，當人手碰到A點的位置時，有可能因為上述或其他干擾，而使得上述傳統的觸控裝置1之檢測電路可能誤判被人手所碰到的位置為B點。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種觸控裝置結構，利用設置于復數個周邊連接線處的屏蔽層，配合接地接觸線，可以屏蔽訊號的干擾等因素所造成的誤動作，并借此提高觸控裝置結構的靈敏度與準確性。

根據上述的目的，本發明提供一種觸控裝置結構，其包括感測電極結構、屏蔽層、復數個周邊連接線與接地接觸線。屏蔽層包圍感測電極結構之周邊。復數個周邊連接線位于所述屏蔽層下方，且電性連接感測電極結構。接地接觸線電性連接屏蔽層。

本發明提供一種觸控裝置結構的制造方法，其包括以下步驟。首先，形成感測電極結構。然后，形成屏蔽層，使屏蔽層包圍感測電極結構之周邊。接著，形成復數個周邊連接線于所述屏蔽層下方，使復數個周邊連接線電性連接感測電極結構。再來，形成接地接觸線，使接地接觸線電性連接屏蔽層。

綜上所述，本發明所提供的觸控裝置結構及其制造方法可以屏蔽訊號干擾，避免誤操作的產生，藉此提升觸控電路運作的可靠性。

附圖說明

下面結合具體實施方式及附圖，對本發明作進一步詳細說明。

圖1為傳統的觸控電路的平面透視圖。

圖2為傳統的觸控電路之誤動作的示意圖。

圖3為本發明實施例之觸控裝置結構的剖面圖。

圖4為本發明實施例之觸控裝置結構的另一實施例的剖面圖。

圖5為本發明實施例之觸控裝置結構之絕緣層的示意圖。

圖6為本發明實施例之觸控裝置結構的剖面圖。

圖7A為本發明實施例之觸控裝置結構之導電圖形與屏蔽層的示意圖。

圖7B為本發明實施例之觸控裝置結構之第一絕緣圖形與第二絕緣圖形的示意圖。

圖7C為本發明實施例之觸控裝置結構之復數個導電跨線、復數個周邊連接線與接地接觸線的示意圖。

圖7D為本發明實施例之觸控裝置結構的平面透視圖。

圖8A為本發明另一實施例之觸控裝置結構的剖面圖。

圖8B為本發明另一實施例之觸控裝置結構之第一軸向導電圖形與屏蔽層的示意圖。

圖8C為本發明另一實施例之觸控裝置結構之第一絕緣圖形與第二絕緣圖形的示意圖。

圖8D為本發明另一實施例之觸控裝置結構之第二軸向導電圖形、復數個周邊連接線與接地接觸線的示意圖。

圖8E為本發明另一實施例之觸控裝置結構的平面透視圖。

圖9為本發明實施例之觸控裝置結構的制造方法的流程圖。

圖10為本發明實施例之觸控裝置結構的制造方法的流程圖。

圖11為本發明另一實施例之觸控裝置結構的制造方法的流程圖。

具體實施方式